關(guān)于軍用測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化和技術(shù)體系問(wèn)題的研究與探討?

摘要：本文通過(guò)對(duì)軍用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS技術(shù)發(fā)展的簡(jiǎn)單回顧，介紹了相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題產(chǎn)生和發(fā)展過(guò)程，結(jié)合國(guó)外下一代軍用測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)與可測(cè)試性技術(shù)等相應(yīng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的分析，討論了軍用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與可測(cè)性標(biāo)準(zhǔn)化體系與關(guān)鍵技術(shù)。針對(duì)國(guó)內(nèi)軍用ATS發(fā)展面臨的標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題進(jìn)行了分析，并初步探討了國(guó)內(nèi)軍用ATS標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展策略和建議。
關(guān)鍵詞：測(cè)試系統(tǒng)；標(biāo)準(zhǔn)化；體系結(jié)構(gòu)；技術(shù)體系
1? 引言
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)及在軍事方面的應(yīng)用已有三十多年的歷史。在以往的發(fā)展歷程中，該領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展大部分是圍繞著測(cè)試總線(xiàn)技術(shù)為核心而展開(kāi)的，從初期的專(zhuān)用接口、到統(tǒng)一的、迄今為止被認(rèn)為是最為成功的GPIB接口總線(xiàn)，以及到VXI、PXI和新近推出的LXI技術(shù)等等。但發(fā)展至今，除了初期的專(zhuān)用接口外，目前尚未有一種接口總線(xiàn)能夠完全主導(dǎo)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展，包括被人們寄予厚望的VXI總線(xiàn)系統(tǒng)。相反卻形成了多種測(cè)試總線(xiàn)共存的發(fā)展局面。由于基本總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)的多元化，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)（特別是模塊化儀器技術(shù)）似乎陷入了一種多頭緒發(fā)展的局面。隨著Tek公司、Agilent公司等大儀器公司先后退出VXI產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)領(lǐng)域，這種趨勢(shì)特征更為明顯，也帶來(lái)了其發(fā)展的諸多疑問(wèn)。
然而，與此相對(duì)照的是，隨著裝備復(fù)雜性的快速增長(zhǎng)，自動(dòng)化的多參數(shù)綜合測(cè)試和診斷系統(tǒng)的需求越來(lái)越旺盛，目前，幾乎每一種重要的武器裝備都有相應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)研制計(jì)劃，這導(dǎo)致了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)在應(yīng)用層面上、特別是在軍事應(yīng)用上的地位和作用卻在以非常快速的趨勢(shì)增長(zhǎng)，但同時(shí)所帶來(lái)的問(wèn)題也日益尖銳。
首先是標(biāo)準(zhǔn)問(wèn)題，由于標(biāo)準(zhǔn)上的多樣化，國(guó)外在軍用測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展期間，忽視了通用測(cè)試特性的統(tǒng)一規(guī)劃，造成多類(lèi)型ATS（Automatic Test System）林立、可移植性差、成本高、功能重疊、效率低下等方面的問(wèn)題，極大地制約了ATS的應(yīng)用效能。而從目前情況看，我們正在走美軍曾經(jīng)走過(guò)的彎路。
其次，裝備復(fù)雜性的增長(zhǎng)使得現(xiàn)有測(cè)試方法的局限性暴露無(wú)余，這時(shí)將裝備測(cè)試和驗(yàn)證問(wèn)題納入設(shè)計(jì)范疇，從而簡(jiǎn)化測(cè)試復(fù)雜性幾乎就成為解決該問(wèn)題的唯一的途徑，這也是裝備可測(cè)性設(shè)計(jì)問(wèn)題得到重視的重要原因。
另外，裝備測(cè)試的重要目標(biāo)之一是維護(hù)和保障，因此圍繞著測(cè)試信息綜合和利用的故障診斷技術(shù)也成為了軍用測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的熱點(diǎn)。
本文主要圍繞測(cè)試系統(tǒng)和相關(guān)可測(cè)性標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題，探討軍用測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)的發(fā)展策略。
2? 面向裝備的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題
沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)化就沒(méi)有自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用性！
2.1標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題的提出
現(xiàn)代裝備對(duì)ATS的需求持續(xù)增長(zhǎng)，近20年來(lái),西方發(fā)達(dá)國(guó)家對(duì)ＡＴＥ的研制投入了大量資金。美國(guó)國(guó)防部從1980～1992年對(duì)ＡＴＥ投入了500億美元。美國(guó)各軍兵種分別制定了自己的ＡＴＳ發(fā)展計(jì)劃,比如,美國(guó)空軍制定的“模塊化自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ＭＡＴＥ)”發(fā)展計(jì)劃,美國(guó)海軍制定的“綜合自動(dòng)化支持系統(tǒng)(ＣＡＳＳ)”發(fā)展計(jì)劃，美國(guó)陸軍制定的“中間級(jí)戰(zhàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備系列(ＩＦＴＥ)”發(fā)展計(jì)劃。這些發(fā)展計(jì)劃的實(shí)施對(duì)增強(qiáng)技術(shù)保障能力起到了明顯作用。
然而，美軍ＡＴＳ的研發(fā)始于軍兵種分散管理,并且每種型號(hào)武器裝備的ＡＴＳ又是獨(dú)立開(kāi)發(fā)并投入現(xiàn)場(chǎng)使用,這種重復(fù)開(kāi)發(fā)不僅增加了費(fèi)用和時(shí)間,并且使ＡＴＳ品種繁多。到上個(gè)世紀(jì)90年代中期,美國(guó)空軍擁有兩千多 套ＡＴＳ,但品種卻多達(dá)600多種,使用的測(cè)試語(yǔ)言就有40多種,每一種ＡＴＳ都要有自己的后勤保障,包括備品備件、使用人員、技術(shù)手冊(cè)等。測(cè)試設(shè)備品種繁多,體積龐大是又一個(gè)重大問(wèn)題。美軍在“沙漠之狐”行動(dòng)中,為了維修和保障8架Ｆ117Ａ戰(zhàn)斗機(jī),需要部署一架Ｃ141、4架Ｃ5Ａ和2架Ｃ17等大型運(yùn)輸機(jī)來(lái)運(yùn)輸各種測(cè)試設(shè)備、技術(shù)資料、消耗器件及維護(hù)保障人員,大大限制了飛機(jī)的出動(dòng)能力。因此ＡＴＳ制造成本和維護(hù)費(fèi)用使得美國(guó)國(guó)防部無(wú)法忍受,不得不終止美國(guó)空軍的MATE發(fā)展計(jì)劃。
2.2? 美軍標(biāo)準(zhǔn)化的工作
由于ATS的體系結(jié)構(gòu)不開(kāi)放,標(biāo)準(zhǔn)化工作嚴(yán)重滯后,制約了軍用ATS裝備保障效能的發(fā)揮。美國(guó)國(guó)防部認(rèn)識(shí)到ATS的發(fā)展必須集中管理、統(tǒng)一協(xié)調(diào)。由此出臺(tái)了一系列關(guān)于ATS接口、標(biāo)準(zhǔn)和服務(wù)的技術(shù)規(guī)范。
美國(guó)軍方從20世紀(jì)80年代中期開(kāi)始研制針對(duì)多種武器平臺(tái)和系統(tǒng)，由可重用公共測(cè)試資源組成的通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，并形成了4大標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)系列(海軍的TETS 系統(tǒng)、陸軍的IFTE 系統(tǒng),海軍陸戰(zhàn)隊(duì)的TETS和電子戰(zhàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)J SECST),但現(xiàn)有以軍種為單位的通用測(cè)試系統(tǒng)仍然存在以下不足:
（1）測(cè)試系統(tǒng)軟/硬件結(jié)構(gòu)缺乏通用性和標(biāo)準(zhǔn)化，這樣不僅增加了使用和維護(hù)費(fèi)用，而且降低了測(cè)試系統(tǒng)間的互操作性。而且，由于現(xiàn)有通用測(cè)試系統(tǒng)以各軍種為單位，針對(duì)不同的武器維護(hù)級(jí)別(現(xiàn)場(chǎng)、基地)，缺乏了系統(tǒng)間的互操作性，就無(wú)法適應(yīng)現(xiàn)代多兵種聯(lián)合作戰(zhàn)對(duì)多武器系統(tǒng)、多級(jí)維護(hù)的需要。
（2）裝備可測(cè)試性問(wèn)題突出，功能重疊，使ATS效能低下。
（3）無(wú)法有效地與外部環(huán)境實(shí)現(xiàn)測(cè)試診斷信息的交互，阻礙了診斷信息的共享和重用，使得診斷效率和準(zhǔn)確性低下。
?（4）由于商用儀器與軍用系統(tǒng)在生命周期方面的巨大差距（20~30年），導(dǎo)致軍用系統(tǒng)中儀器的更換升級(jí)困難、維護(hù)費(fèi)用極高。
實(shí)際上，造成這些缺陷的根源只有一個(gè)，就是沒(méi)有統(tǒng)一的測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)。因此，從1996年開(kāi)始，美國(guó)國(guó)防部DoD與工業(yè)界一起著手制訂一種開(kāi)放的ATS結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。1999年美國(guó)國(guó)防部自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行局召集陸、海、空軍、海軍陸戰(zhàn)隊(duì)及工業(yè)部門(mén)聯(lián)合開(kāi)發(fā)新一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)NxTest，主要內(nèi)容包括ATS的發(fā)展目標(biāo)、采購(gòu)策略、標(biāo)準(zhǔn)系列產(chǎn)品和研發(fā)計(jì)劃等。同時(shí)成立了相應(yīng)的工作組NxTest IPT，確定了以確認(rèn)影響ATS通用性的關(guān)鍵接口CI和關(guān)鍵要素，逐步完成測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化的定義。
新一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)NxTest發(fā)展目標(biāo)是：以標(biāo)準(zhǔn)化推動(dòng)通用ATS的發(fā)展，最大程度地減少專(zhuān)用ATS 的使用,降低ATS采購(gòu)和支持費(fèi)用，提升ATS的互操作性，改進(jìn)測(cè)試質(zhì)量。
2.3? 新一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)
測(cè)量?jī)x器本質(zhì)上是面向信號(hào)的，所以通用性是其與身俱來(lái)的特性。測(cè)試系統(tǒng)最終是面向具體應(yīng)用對(duì)象的，所以本質(zhì)是專(zhuān)用的。但大部分測(cè)試系統(tǒng)在某一階段具有共同屬性，即有一定的通用性，所以有了標(biāo)準(zhǔn)總線(xiàn)、SCPI、IVI、ATALAS等軟標(biāo)準(zhǔn)，有了Lab Windows CVI等軟件平臺(tái)，所以測(cè)試系統(tǒng)通用性成功的關(guān)鍵在于把標(biāo)準(zhǔn)推進(jìn)到哪一個(gè)階段層面上。
測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化越接近對(duì)象，測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)用性越強(qiáng)，易用性也越好，資源也越容易節(jié)省和優(yōu)化，但是標(biāo)準(zhǔn)化工作量和難度太大，甚至無(wú)法推進(jìn)。
標(biāo)準(zhǔn)化越遠(yuǎn)離具體對(duì)象，通用性越好，標(biāo)準(zhǔn)化容易形成，但后期重復(fù)工作也會(huì)越多，底層共享性差，資源浪費(fèi)也越大。
實(shí)際上，追求測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)完全的標(biāo)準(zhǔn)化是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的目標(biāo)，但測(cè)試診斷系統(tǒng)構(gòu)建的主要難點(diǎn)和工作量在軟件，所以，新一代測(cè)試系統(tǒng)體系更傾向于從軟件接口、信息格式等“軟”的層面上構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)，盡可能在底層上實(shí)現(xiàn)資源共享。
美國(guó)國(guó)防部自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行局與工業(yè)界聯(lián)合成立了多個(gè)技術(shù)工作組，將自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)分為測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備（含硬件、軟件和開(kāi)關(guān)）、測(cè)試接口適配器、TPS(含診斷、測(cè)試程序)和被測(cè)對(duì)象UUT等幾個(gè)主要部分，并將其中影響測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化、互操作性和使用維護(hù)費(fèi)用的24個(gè)關(guān)鍵軟接口，并以此為基礎(chǔ)建立了下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)放式體系結(jié)構(gòu)。
目前24個(gè)關(guān)鍵接口中已有6個(gè)確定了相應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)并開(kāi)始執(zhí)行，10個(gè)接口正在制定過(guò)程中，還有8個(gè)接口的標(biāo)準(zhǔn)尚未開(kāi)始。工作組預(yù)計(jì)將于2009~2010年完成全部接口的標(biāo)準(zhǔn)化工作。
新一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)首先是信息共享和交互的結(jié)構(gòu)，能夠滿(mǎn)足側(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部各組件間、不同測(cè)試系統(tǒng)之間、測(cè)試系統(tǒng)與外部環(huán)境間信息的共享與無(wú)縫交互能力。
2.4 測(cè)試總線(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)問(wèn)題
?目前，測(cè)試系統(tǒng)主流的標(biāo)準(zhǔn)總線(xiàn)有四種GPIB即IEEE488（1974年）、VXI（1987年）、PXI（1997年）和LXI（2004年）。
?實(shí)際上，在計(jì)算機(jī)和通信技術(shù)發(fā)展到今天，采用何種總線(xiàn)來(lái)完成高效率的信息傳送已經(jīng)不重要了，重要的是能夠?yàn)閮x器界和用戶(hù)接受的程度。決定一種測(cè)試總線(xiàn)成功的要素有如下三點(diǎn)：
儀器廠家和工業(yè)背景的支持。
用戶(hù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)可和支持。
總線(xiàn)本身的可擴(kuò)展能力，特別是測(cè)試系統(tǒng)特別強(qiáng)調(diào)的同步和觸發(fā)能力。
其中，第一點(diǎn)是最關(guān)鍵的因素。目前，測(cè)試總線(xiàn)必須依附現(xiàn)有的計(jì)算機(jī)和通信的主流總線(xiàn)才能發(fā)展。實(shí)際上，除了早期的GPIB總線(xiàn)外，其他所有測(cè)試總線(xiàn)背后都站立著工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)巨人。
（1）GPIB總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)：GPIB總線(xiàn)是迄今為止測(cè)試界推出的最成功的一種測(cè)試總線(xiàn)，歷經(jīng)30多年歷史仍有相當(dāng)?shù)膽?yīng)用市場(chǎng)在現(xiàn)代以更新速度快而著稱(chēng)的IT界是非常少見(jiàn)的，這點(diǎn)與早期計(jì)算機(jī)總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)尚未形成占統(tǒng)治地位的主流標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)，也與測(cè)量?jī)x器長(zhǎng)的使用周期密切相關(guān)，就性能而言，GPIB總線(xiàn)早已落后，但它有廣泛的適應(yīng)性（現(xiàn)在儀器多數(shù)仍有GPIB接口），組建靈活性，價(jià)格低廉，特別是保護(hù)了既往的投資，所以，至今仍在普遍使用。
（2）VXI總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)：VXI總線(xiàn)源自于著名的工業(yè)控制總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)VME，其本身是由MOTOROLA公司主推的工業(yè)總線(xiàn)，而最早HP公司和Tecktronix公司等儀器界最有實(shí)力的幾家公司在其儀器內(nèi)部采用的處理器大多是MOTOROLA的產(chǎn)品體系，所以支持VME標(biāo)準(zhǔn)也就順理成章。正是由于有主流儀器廠家的有力支持，VXI標(biāo)準(zhǔn)可選擇的儀器模塊多，性能優(yōu)良，從而成為測(cè)試界主流總線(xiàn)之一。
?然而，在PC占據(jù)計(jì)算機(jī)應(yīng)用絕對(duì)優(yōu)勢(shì)地位的今天，VXI來(lái)自?xún)x器之外的工業(yè)界和用戶(hù)層面的支持太少了，造成其成本居高不下，VXI與PC之間的多重轉(zhuǎn)化即造成資源浪費(fèi)、效率降低，也造成用戶(hù)使用上的諸多不便，從而限制了VXI總線(xiàn)的進(jìn)一步發(fā)展。
?目前，VXI總線(xiàn)應(yīng)用的主要?jiǎng)恿€在于其慣性的發(fā)展，例如，已經(jīng)確立VXI為測(cè)試系統(tǒng)裝備標(biāo)準(zhǔn)的用戶(hù)只能慣性的沿用該系列的產(chǎn)品，但是，隨著Agilent ，Tek等有實(shí)力公司的逐步退出，其市場(chǎng)會(huì)逐步萎縮。
（3）PXI總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)：沿于INTEL體系的PC在當(dāng)今計(jì)算機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域占絕對(duì)的主導(dǎo)地位，這一點(diǎn)是不可能長(zhǎng)期被測(cè)試儀器界所忽視的，1997年美國(guó)NI公司以PC主流總線(xiàn)cPCI總線(xiàn)的擴(kuò)展推出了PXI總線(xiàn)，它自然得到了測(cè)控工業(yè)界的全面支持，體現(xiàn)出很強(qiáng)的活力，也受到用戶(hù)層面的歡迎。
但是NI公司畢竟是一所小的儀器公司，盡管cPCI總線(xiàn)是一個(gè)在計(jì)算機(jī)應(yīng)用界有統(tǒng)治力的大聯(lián)盟，但在主流儀器界包括Agilent、R&S、Tek等大公司都不甘支持這樣的標(biāo)準(zhǔn)，所以至今為止只是工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，未能被IEEE接受為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。因此，盡管PXI總線(xiàn)具有結(jié)構(gòu)緊湊，成本低廉，應(yīng)用方便等突出優(yōu)點(diǎn)，但缺少主流儀器廠家的支持使得其可選的高水平儀器模塊太少，所以其應(yīng)用也多以低端應(yīng)用為主，或與GPIB總線(xiàn)混合使用。
（4）LXI總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)：LXI總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)是2004年9 月14 日由Agilent 公司和VXI 科技公司共同提出一種新型儀器接口規(guī)范。它基于著名的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以太網(wǎng)( Ethernet)技術(shù),擴(kuò)展了儀器需要的語(yǔ)言、命令、協(xié)議等內(nèi)容,構(gòu)成了一種適用于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的新一代模塊化儀器平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)。
目前，LXI協(xié)會(huì)幾乎包含了所有的主要測(cè)量?jī)x器廠商。應(yīng)該說(shuō)，LXI總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)具備了測(cè)試總線(xiàn)成功的所有要素，也最有機(jī)會(huì)成為下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主導(dǎo)的總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)。但其本身尚在完善發(fā)展階段，但作為下一代主流測(cè)試總線(xiàn)的前景還是被普遍看好。
總的說(shuō)來(lái)，多總線(xiàn)并行的局面還會(huì)繼續(xù)維持下去，但測(cè)試總線(xiàn)最終趨同于“計(jì)算機(jī)和通信”主流總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)的趨勢(shì)是不會(huì)改變的，也唯有如此，才能使測(cè)試系統(tǒng)獲得最低的組建成本和最廣泛地用戶(hù)接受度，而未來(lái)測(cè)試總線(xiàn)也會(huì)越來(lái)越多地注重測(cè)試儀器和系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)語(yǔ)言、命令、協(xié)議等等“軟特性”，并據(jù)此制定更多的標(biāo)準(zhǔn)。
3? 新一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)涉及的一些標(biāo)準(zhǔn)和關(guān)鍵技術(shù)
3.1? 面向信息交互層面的標(biāo)準(zhǔn)化體系技術(shù)
(1) 以IEEE P1226為核心的ABBET標(biāo)準(zhǔn)(廣域測(cè)試環(huán)境) 與軟件體系結(jié)構(gòu)
ARBET標(biāo)準(zhǔn)由IEEE P1226.3 -12等一整套測(cè)試領(lǐng)域信息接口標(biāo)準(zhǔn)組成，覆蓋與測(cè)試信息相關(guān)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)到維護(hù)的各個(gè)環(huán)節(jié)。
該標(biāo)準(zhǔn)有兩個(gè)目標(biāo)：一是通過(guò)定義一系列的接口提供針對(duì)ATS的描述能力和控制信息，二是通過(guò)定義一系列接口實(shí)現(xiàn)虛擬和真實(shí)資源管理服務(wù)。
從下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)的規(guī)劃可以看出，未來(lái)通用測(cè)? 試系統(tǒng)軟件體系結(jié)構(gòu)將以IEEE制定的ABBET標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)測(cè)試診斷信息的共享和重用。采用ABBET標(biāo)準(zhǔn)將實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試維護(hù)信息的共享和重用，實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器的可互換、TPS的可移植與互操作，使集成診斷測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)更方便、快捷。ABBET標(biāo)準(zhǔn)定義了基于框架的模塊化測(cè)試軟件結(jié)構(gòu)，支持軟件資源的重用。ABBET標(biāo)準(zhǔn)的核心思想是:將測(cè)試軟件合理分層配置，實(shí)現(xiàn)測(cè)試軟件與測(cè)試系統(tǒng)硬件、軟件運(yùn)行平臺(tái)的無(wú)關(guān)性，滿(mǎn)足測(cè)試軟件可移植、重用與互操作的要求。
(2)儀器可互換技術(shù)與IVI(可互換虛擬儀器)系列規(guī)范
為了降低開(kāi)發(fā)成本，縮短研制周期，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中大量采用商業(yè)貨架產(chǎn)品，而商用產(chǎn)品更新?lián)Q代快，為了延長(zhǎng)測(cè)試系統(tǒng)的使用壽命，儀器更換往往是不可避免的。另一方面，隨著通用測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用范圍的擴(kuò)大，為適應(yīng)被測(cè)對(duì)象測(cè)試需求的變化，也要求測(cè)試儀器能夠方便地升級(jí)換代。由于儀器型號(hào)、種類(lèi)和產(chǎn)生廠商的不同將給儀器更換帶來(lái)一系列兼容性問(wèn)題，儀器可互換技術(shù)就是要最大限度地屏蔽儀器間差異，為用戶(hù)提供靈活的儀器互換機(jī)制。IVI規(guī)范作為美國(guó)國(guó)防部公布的下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)，是實(shí)現(xiàn)真正意義的儀器可互換的關(guān)鍵。IVI-C, IVI-COM提供了同類(lèi)儀器的互換機(jī)制，實(shí)現(xiàn)了同類(lèi)儀器驅(qū)動(dòng)器函數(shù)形式和參數(shù)的完全統(tǒng)一，使最終用戶(hù)不再被束縛于特定廠家的特定型號(hào)的儀器設(shè)備。
(3) TPS(測(cè)試程序集)可移植與互操作技術(shù)
TPS可移植和互操作技術(shù)是實(shí)現(xiàn)測(cè)試軟件可重用、擴(kuò)大測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用范圍、提高開(kāi)發(fā)效率和降低測(cè)試開(kāi)發(fā)成本的關(guān)鍵。實(shí)現(xiàn)測(cè)試軟件可移植與互操作的兩個(gè)基本條件是:①測(cè)試系統(tǒng)信號(hào)接口的標(biāo)準(zhǔn)化;②測(cè)試程序與具體測(cè)試資源硬件的無(wú)關(guān)。
測(cè)試軟件從結(jié)構(gòu)上可分為面向儀器、面向應(yīng)用和面向信號(hào)三種形式，而面向信號(hào)的開(kāi)發(fā)是測(cè)試軟件互操作的前提。面向信號(hào)的開(kāi)發(fā)使測(cè)試需求反映為針對(duì)UUT端口的測(cè)量/激? 勵(lì)信號(hào)要求，TPS中不包含任何針對(duì)真實(shí)物理資源的控制操作。當(dāng)測(cè)試資源模型也是圍繞“信號(hào)”而建立時(shí)，則只要通過(guò)建立虛擬信號(hào)資源向真實(shí)信號(hào)資源的映射機(jī)制，就可以實(shí)現(xiàn)TPS在不同配置的測(cè)試系統(tǒng)上運(yùn)行。
（4）IEEE Std 1641--面向信號(hào)和測(cè)試定義的標(biāo)準(zhǔn)
?面向信號(hào)及其測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化是實(shí)現(xiàn)ATS通用性、可移植性和互操作性的基礎(chǔ)，從面向信號(hào)的角度出發(fā)尋求測(cè)試軟件的通用性一直是ATS界堅(jiān)持的技術(shù)路線(xiàn)，最典型的就是ATLAS（the Abbreviated Test Language for All System）語(yǔ)言及相關(guān)系列標(biāo)準(zhǔn)的出現(xiàn)，而IEEE Std 1641標(biāo)準(zhǔn)綜合了早先ATLAS系列標(biāo)準(zhǔn)，如： C/ATLAS，IEEE Std. 716-1989，ARINC Specification 626 ATLAS等。
IEEE Std 1641-2006標(biāo)準(zhǔn)不但為各種測(cè)試信號(hào)形式、特征，以及信號(hào)方法和測(cè)試過(guò)程給出了完整定義，而且強(qiáng)調(diào)了測(cè)試信息在設(shè)計(jì)、測(cè)試和維護(hù)個(gè)階段之間互通性，為基本測(cè)試軟件的標(biāo)準(zhǔn)化和可互操作性提供了更為廣泛的技術(shù)基礎(chǔ)。
?(5) IEEE1232--AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)(適用于所有測(cè)試環(huán)境的人工智能信息交換與服務(wù))與ATML(自動(dòng)測(cè)試標(biāo)注語(yǔ)言)
IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)全稱(chēng)為IEEE Standard for Artificial Intelligence Exchange and Service Tie to All Test Environments (AI-ESTATE)。
隨著被測(cè)對(duì)象的日益復(fù)雜，以數(shù)據(jù)處理為基礎(chǔ)的傳統(tǒng)測(cè)試診斷制方法已經(jīng)無(wú)法適應(yīng)復(fù)雜設(shè)備的維護(hù)需要，應(yīng)用以知識(shí)處理為基礎(chǔ)的人工智能技術(shù)將是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的必然趨勢(shì)，IEEE制定AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)的目的正是為了規(guī)范智能測(cè)試診斷系統(tǒng)的知識(shí)表達(dá)與服務(wù)，確保診斷推理系統(tǒng)相互兼容且獨(dú)立于測(cè)試過(guò)程，測(cè)試診斷知識(shí)可移植和重用。
??? 正在制定的ATML標(biāo)準(zhǔn)是XML(可擴(kuò)展標(biāo)注語(yǔ)言)的一個(gè)子集，采用ATML表達(dá)測(cè)試診斷信息，將實(shí)現(xiàn)分布開(kāi)放環(huán)境中測(cè)試診斷信息的無(wú)縫交互。ATML繼承了XML適用于多種運(yùn)行環(huán)境，便于與各種編程語(yǔ)言交互的優(yōu)點(diǎn)，是目前最適合描述AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)定義的各種測(cè)試診斷知識(shí)模型的語(yǔ)言。采用ATML表示測(cè)試診斷知識(shí)，將實(shí)現(xiàn)測(cè)試診斷知識(shí)與測(cè)試過(guò)程的分離，便于測(cè)試診斷知識(shí)的共享和可移植。而在測(cè)試執(zhí)行過(guò)程中，還可以根據(jù)測(cè)試診斷知識(shí)來(lái)動(dòng)態(tài)地調(diào)度測(cè)試運(yùn)行步驟，實(shí)現(xiàn)更有效的故障定位，從而縮短診斷排故時(shí)間。
3.2 基于IEEE1505-2006的公共測(cè)試接口CTI(Connnon Test Interface)
測(cè)試系統(tǒng)接口的標(biāo)準(zhǔn)化和統(tǒng)一是TPS可移植和互操作的重要基礎(chǔ)之一，1999年RFI (Receiver Fixture Interface，接卡器與測(cè)試夾具接口)聯(lián)盟制定了測(cè)試系統(tǒng)信號(hào)接口標(biāo)準(zhǔn)IEEE P1505，實(shí)現(xiàn)了信號(hào)接口裝置電氣和機(jī)械連接的標(biāo)準(zhǔn)化，2006年重新更新了該標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)各類(lèi)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)都定義了嚴(yán)格的機(jī)械、電氣標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)接口規(guī)范，這些信號(hào)包括數(shù)字、模擬、射頻RF、電源等等，并對(duì)如接卡器與測(cè)試夾具接口等用于測(cè)試系統(tǒng)組建的大型部件面板，包括激勵(lì)/測(cè)量信號(hào)與被測(cè)對(duì)象之間的布局和聯(lián)結(jié)方式等等都給出了標(biāo)準(zhǔn)定義。
3.3 合成儀器技術(shù)(Synthetic Instruments)
在以往的ATS設(shè)計(jì)中，存在大量的通用儀器或模塊性能資源的冗余和浪費(fèi)，這不僅是減小ATS的體積和成本的障礙，也影響了ATS效率、可靠性和功率成本。為此NxTest IPT工作組專(zhuān)門(mén)成了合成儀器技術(shù)工作組SI--IPT，主要探索面向測(cè)試系統(tǒng)的合成儀器技術(shù)發(fā)展與相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制定。
傳統(tǒng)測(cè)試儀器往往是一些功能單一的專(zhuān)用儀器，隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)的日臻成熟，近年來(lái)出現(xiàn)了以軟件控制的、以功能組合方式實(shí)現(xiàn)的合成儀器技術(shù)，其基本做法是:以高速A/D, D/A和DSP芯片為基礎(chǔ)組成通用的測(cè)試儀器硬件系統(tǒng)，而測(cè)試/測(cè)量任務(wù)的實(shí)現(xiàn)以及系統(tǒng)升級(jí)完全依靠軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)。目前美國(guó)海軍CASS測(cè)試系統(tǒng)升級(jí)過(guò)程中已將頻譜分析儀、射頻功率計(jì)、波形分析儀、時(shí)間/頻率測(cè)試儀和AC/DC電壓測(cè)量等7種儀器的功能由一個(gè)合成儀器模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)，而美國(guó)陸軍的IFTE、海軍陸戰(zhàn)隊(duì)的TETS系統(tǒng)也將進(jìn)行相應(yīng)的升級(jí)改造。合成儀器技術(shù)進(jìn)一步推進(jìn)了軟件就是儀器的虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展。
基于軟件無(wú)線(xiàn)電概念的合成儀器技術(shù)不僅會(huì)改變測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)，更是測(cè)試測(cè)量技術(shù)的革命性進(jìn)步，但是其技術(shù)的限制和瓶頸也是顯而易見(jiàn)的，這就是該技術(shù)太依賴(lài)A/D和D/A器件帶寬和動(dòng)態(tài)范圍的提升。從目前情況看，完全依賴(lài)數(shù)字技術(shù)的DSP性能（速度和存儲(chǔ)）每18個(gè)月就能增長(zhǎng)一倍，以來(lái)模擬數(shù)字混合技術(shù)的A/D和D/A性能（分辨率和速率）增長(zhǎng)周期大約為24~36個(gè)月，而微波毫米波器件性能（指標(biāo)、體積和價(jià)格）周期大約為36~96個(gè)月。由此可以看出真正基于軟件無(wú)線(xiàn)電的合成儀器還相當(dāng)遙遠(yuǎn)，但在低端射頻頻段、以及附加適當(dāng)變頻器件的過(guò)渡性合成儀器將會(huì)成為新一代儀器體系發(fā)展的潮流。
4? 裝備系統(tǒng)可測(cè)性的問(wèn)題
? 沒(méi)有可測(cè)性設(shè)計(jì)，就沒(méi)有測(cè)試系統(tǒng)效能的真正發(fā)揮！
4.1 可測(cè)性問(wèn)題的起源
七十年代，美軍在裝備維護(hù)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)隨著系統(tǒng)的復(fù)雜度不斷提高，經(jīng)典的測(cè)試方法已不能適應(yīng)要求，甚至出現(xiàn)測(cè)試成本與研制成本倒掛的局面，有資料報(bào)道復(fù)雜電子系統(tǒng)糟糕的故障可觀測(cè)性設(shè)計(jì)使產(chǎn)品整個(gè)壽命周期維護(hù)成本是制造成本的2-10倍。
此后，隨著武器系統(tǒng)復(fù)雜性的迅速增長(zhǎng)，目前能掌握的測(cè)試方法已近乎于“無(wú)解”，將測(cè)試和驗(yàn)證問(wèn)題納入設(shè)計(jì)的范疇?zhēng)缀跻呀?jīng)成為解決復(fù)雜測(cè)試問(wèn)題的唯一的途徑。
1976年F. Liour 等人提出可測(cè)性設(shè)計(jì)思想。
美軍MIL - STD - 2165 可測(cè)試性大綱將可測(cè)試性作為與可靠性及維修性等同的設(shè)計(jì)要求,標(biāo)志著可測(cè)試性作為一門(mén)獨(dú)立學(xué)科的確立。美國(guó)通過(guò)重視武器系統(tǒng)的可測(cè)性設(shè)計(jì)工作，使武器系統(tǒng)全壽命周期費(fèi)用大大降低。
4.2 可測(cè)性的定義
產(chǎn)品能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其狀態(tài)(可工作、不可工作、性能下降) ,隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性。以提高可測(cè)試性為目的進(jìn)行的設(shè)計(jì)被稱(chēng)為可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT: design for testability)。其內(nèi)涵包括：
（1）可測(cè)試性描述了測(cè)試信息獲取的難易程度
可控性--能夠通過(guò)外部控制激活產(chǎn)品故障狀態(tài)的特性，取值[0，1]
可觀測(cè)性--能夠通過(guò)控制將激活的故障狀態(tài)傳送到可觀測(cè)端口的特性，取值[0，1]
可測(cè)性---就是可控性和可觀測(cè)性難易程度的綜合表征。
（2）?可測(cè)試性是設(shè)備本身的一種設(shè)計(jì)特性
同可靠性一樣,可測(cè)試性也是裝備本身所固有的一種設(shè)計(jì)特性。裝備的可測(cè)試性并不是可測(cè)試性設(shè)計(jì)所賦予的,產(chǎn)品一旦設(shè)計(jì)生產(chǎn)出,本身就具備了一定的可測(cè)試性。
（3）?可測(cè)試性技術(shù)的最終目標(biāo)是提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,降低全壽命周期費(fèi)用
4.3 國(guó)內(nèi)情況
國(guó)內(nèi)裝備的可測(cè)性設(shè)計(jì)從80年代開(kāi)始逐漸得到重視。1990年4月發(fā)布了航標(biāo)HB6437-90《電子系統(tǒng)和設(shè)備的可測(cè)試性大綱》,至今已有15年,1995年10月發(fā)布國(guó)軍標(biāo)GJB2547-95《裝備測(cè)試性大綱》,至今也有10年了, 但應(yīng)用和推廣受到很大的限制。武器設(shè)備測(cè)試性設(shè)計(jì)存在的主要問(wèn)題是：
（1）管理層面：
??沒(méi)有落實(shí)測(cè)試性設(shè)計(jì)與電子系統(tǒng)/設(shè)備設(shè)計(jì)的早期結(jié)合
??產(chǎn)品的研制過(guò)程、生產(chǎn)過(guò)程和使用過(guò)程各階段各環(huán)節(jié)的測(cè)試互不相關(guān)
（2）技術(shù)層面：
??缺乏有效的測(cè)試性驗(yàn)證方法對(duì)測(cè)試性指標(biāo)進(jìn)行考核
目前新研制的所有產(chǎn)品,都必須經(jīng)受?chē)?yán)格的可靠性試驗(yàn)對(duì)其可靠性指標(biāo)(MTBF)進(jìn)行考核,直至達(dá)到要求,這對(duì)產(chǎn)品的可靠性落實(shí)的有力保證。而可測(cè)性卻沒(méi)有像可靠性試驗(yàn)?zāi)菢訃?yán)格的有效的試驗(yàn)驗(yàn)證手段。
??可測(cè)性的難題：故障模式集，度量評(píng)估。
目前能接受的可測(cè)性指標(biāo)是故障檢測(cè)率、故障隔離率、虛警率等存在缺陷。首先是故障集難以驗(yàn)證和確認(rèn)，真實(shí)的故障模式集很難完備，采用自定義方式缺乏科學(xué)依據(jù)，所以往往很高。其次是指標(biāo)本身未科學(xué)地反映可測(cè)性：現(xiàn)有指標(biāo)實(shí)際上是將可測(cè)性表征為“可測(cè)”或“不可測(cè)”的二元統(tǒng)計(jì)值，并沒(méi)有表征出測(cè)試難易程度的內(nèi)涵。
??缺乏有效的關(guān)于測(cè)試性設(shè)計(jì)的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與仿真軟件工具
可測(cè)性設(shè)計(jì)者需要設(shè)計(jì)工具輔助完成裝備的可測(cè)性設(shè)計(jì)。美國(guó)的可測(cè)性工程與維護(hù)系統(tǒng)TEAMS和eXpress已應(yīng)用到美國(guó)軍用飛機(jī)、航天飛機(jī)、導(dǎo)彈、國(guó)際空間站等領(lǐng)域的可測(cè)性設(shè)計(jì)與檢驗(yàn)。
4.4? 目前可測(cè)性的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)?
制訂可測(cè)試性國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)是盡可能地使測(cè)試方法、結(jié)構(gòu)、接口和數(shù)據(jù)格式的標(biāo)準(zhǔn)化，這也是保證可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)通用性和可復(fù)用性的重要基礎(chǔ)。
可測(cè)試性國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制訂起源于八十年代末期，當(dāng)時(shí)基于結(jié)構(gòu)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法已經(jīng)相當(dāng)成熟，但存在過(guò)程復(fù)雜、設(shè)計(jì)周期較長(zhǎng)、成本高、設(shè)計(jì)方法不兼容和產(chǎn)品的維修性較差等缺陷，嚴(yán)重影響了可測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用。鑒于結(jié)構(gòu)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法的上述缺點(diǎn),有必要開(kāi)發(fā)一種更為簡(jiǎn)單的、標(biāo)準(zhǔn)化的可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法。1990 年, IEEE 組織和JTAG組織共同推出了IEEE 1149. 1 邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)，目前該標(biāo)準(zhǔn)仍是數(shù)字集成電路與系統(tǒng)的主流可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)，經(jīng)對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展，形成了混合信號(hào)測(cè)試的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEEE1149.4、模塊級(jí)的測(cè)試與維護(hù)總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)IEEE1149. 5、高級(jí)數(shù)字化網(wǎng)絡(luò)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEE1149. 6,在IEEE最近所頒布的基于內(nèi)嵌芯核的系統(tǒng)芯片（SOC）測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEEP1500中，也借鑒和采納了IEEE1149. 1中的許多原理和技術(shù)，并在總體上和IEEE1149. 1兼容。
5 對(duì)軍用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展策略的幾點(diǎn)認(rèn)識(shí)
目前國(guó)內(nèi)軍用測(cè)試系統(tǒng)正在掀起發(fā)展的熱潮，探討和制定什么樣的技術(shù)發(fā)展策略，以推動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化、貫徹落實(shí)可測(cè)性設(shè)計(jì)大綱、并深化綜合診斷的應(yīng)用技術(shù)研究，避免美軍曾經(jīng)走過(guò)的彎路，使發(fā)展走上良性發(fā)展的軌道是目前相當(dāng)迫切的研究課題，具體可考慮從如下幾方面開(kāi)展工作：
5.1 建立國(guó)內(nèi)軍用測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)術(shù)和執(zhí)行機(jī)構(gòu)
從美軍ATS發(fā)展歷程來(lái)看，ATS標(biāo)準(zhǔn)化是一個(gè)相當(dāng)艱巨和漫長(zhǎng)的過(guò)程，特別是當(dāng)軍用ATS已經(jīng)普及應(yīng)用到相當(dāng)程度后再進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化的工作則尤為困難，且代價(jià)極大。目前，國(guó)內(nèi)ATS發(fā)展整體上看尚處于起步階段，雖然現(xiàn)代武器裝備都有相應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)保障計(jì)劃，但尚未大面積的實(shí)施和裝備，因此充分借鑒美軍在ATS裝備發(fā)展過(guò)程中的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)，盡早建立軍用ATS標(biāo)準(zhǔn)化執(zhí)行機(jī)構(gòu)，逐步制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)范ATS的發(fā)展是當(dāng)前國(guó)內(nèi)軍用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的當(dāng)務(wù)之急。
??? 然而，軍用ATS標(biāo)準(zhǔn)化工作的難點(diǎn)既有技術(shù)層面的因素，更有管理體制方面的因素。因此軍用ATS執(zhí)行機(jī)構(gòu)應(yīng)該是國(guó)防或裝備管理部門(mén)與工業(yè)界的充分結(jié)合，需要既能體現(xiàn)管理的權(quán)威性，也能具有堅(jiān)實(shí)的技術(shù)能力，同時(shí)該機(jī)構(gòu)也應(yīng)是一個(gè)開(kāi)放的結(jié)構(gòu)，特別是在技術(shù)層面上更應(yīng)盡可能地覆蓋各種裝備的需求，所以該機(jī)構(gòu)在技術(shù)層面也應(yīng)有一個(gè)從頂層到需求層的梯形結(jié)構(gòu)。
5.2? 以技術(shù)發(fā)展推動(dòng)ATS的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)工作
鑒于標(biāo)準(zhǔn)化對(duì)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的重要意義，參照美軍在標(biāo)準(zhǔn)化建設(shè)過(guò)程方面的工作，從頂層設(shè)計(jì)入手解決軍用測(cè)試系統(tǒng)通用性問(wèn)題當(dāng)然是有效發(fā)展的捷徑，但是，標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題牽扯范圍太寬，其中體制和管理層面的問(wèn)題遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于技術(shù)層面的問(wèn)題，而短期內(nèi)也不易徹底改觀。所以，現(xiàn)階段國(guó)內(nèi)軍用測(cè)試系統(tǒng)仍然走以“技術(shù)”推動(dòng)發(fā)展之路較為可行。其中，重點(diǎn)在兩個(gè)方面，即模塊化儀器成體系逐步發(fā)展和貫徹標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)的典型測(cè)試系統(tǒng)研制，具體如下：
（1）需求為牽引的儀器模塊成體系的發(fā)展策略:儀器模塊的發(fā)展是測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)，也應(yīng)該成為軍用測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的重點(diǎn)，但由于現(xiàn)有的測(cè)試總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)之爭(zhēng)尚未完全塵埃落定，主流總線(xiàn)仍在不太穩(wěn)定的變化之中，所以應(yīng)貫徹“以靜制動(dòng)”的策略，以一、兩種有發(fā)展前景的總線(xiàn)為主，根據(jù)需求逐步按體系發(fā)展測(cè)試儀器模塊，突出應(yīng)用面和共享性應(yīng)該成為儀器模塊發(fā)展的原則。
（2）典型測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)推動(dòng)軍用ATS標(biāo)準(zhǔn)化工作:目前，盡管體系和管理層面的問(wèn)題是測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化的主要問(wèn)題，但國(guó)內(nèi)在相關(guān)的技術(shù)層面上的工作也僅僅在起步階段。美軍在標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展過(guò)程中有各軍兵種四大類(lèi)測(cè)試系統(tǒng)可以借鑒，我們?cè)诩夹g(shù)上還遠(yuǎn)未達(dá)到美軍那時(shí)的成熟度。因此，目前比較可行的方針是，針對(duì)典型裝備測(cè)試需求，按標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)思想，開(kāi)發(fā)具有標(biāo)準(zhǔn)化借鑒價(jià)值的典型測(cè)試系統(tǒng)，并以此從技術(shù)層面上帶動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化的工作，為未來(lái)標(biāo)準(zhǔn)的制定作好技術(shù)上的充分準(zhǔn)備。
5.3? 實(shí)可測(cè)性設(shè)計(jì)要求和管理，發(fā)展可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)
從裝備測(cè)試技術(shù)發(fā)展來(lái)看，可測(cè)性技術(shù)的發(fā)展和相關(guān)政策的落實(shí)是未來(lái)有效解決裝備測(cè)試維護(hù)問(wèn)題必然和根本的途徑。沒(méi)有可測(cè)性設(shè)計(jì)的發(fā)展和應(yīng)用，測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)在裝備維護(hù)保障方面的路只能是越走越窄。
但是，相對(duì)于測(cè)試系統(tǒng)而言，可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)的規(guī)范化工作牽扯范圍更廣，體系和管理層面上的問(wèn)題更為突出，而技術(shù)問(wèn)題也更加的不成熟。目前，從測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域的角度出發(fā)，我們應(yīng)該而且能夠做的主要在兩個(gè)方面：
（1）測(cè)性的評(píng)估和建模工作：可測(cè)試性的評(píng)估是裝備可測(cè)性設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)，這部分的理論和基礎(chǔ)工作應(yīng)該有測(cè)試界研究和解決，但路途仍然比較遙遠(yuǎn)。
（2）測(cè)性設(shè)計(jì)的輔助工具研制：從可測(cè)性發(fā)展來(lái)看，沒(méi)有有效的輔助工具，落實(shí)可測(cè)性設(shè)計(jì)要求是非常困難的，而美國(guó)測(cè)試界推出的TEAMS和eXpress兩個(gè)工具軟件，恰好彌補(bǔ)了這個(gè)不足。目前，這兩個(gè)工具軟件在美軍裝備可測(cè)性設(shè)計(jì)過(guò)程中發(fā)揮了非常重要的作用。