0 引言

　　測(cè)試性是裝備的一種設(shè)計(jì)特性，測(cè)試性的好壞直接影響了裝備性能的高低以及在使用過(guò)程中發(fā)生故障時(shí)檢測(cè)時(shí)間的長(zhǎng)短。改善測(cè)試性是改進(jìn)電子裝備系統(tǒng)設(shè)計(jì)，提高性能，簡(jiǎn)化維修保障工作和提高效費(fèi)比的最有效途徑。在對(duì)裝備質(zhì)量進(jìn)行考核時(shí)，測(cè)試性指標(biāo)是很重要的方面。目前，對(duì)測(cè)試性的驗(yàn)證評(píng)估缺乏科學(xué)有效的措施和方法，還沒(méi)有統(tǒng)一的系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)。本文分析現(xiàn)有的測(cè)試性驗(yàn)證評(píng)估方法，使用更加合理的超幾何分布法。該方法不僅需要的樣本量較少，而且準(zhǔn)確率更高，縮短了時(shí)間，是一種更為有效的方法。根據(jù)這一理論方法指導(dǎo)，使用更人性化的LabWindows/CVI編程語(yǔ)言，進(jìn)行界面設(shè)計(jì)和編程實(shí)現(xiàn)，將其應(yīng)用到工程實(shí)踐中去。

　　1 測(cè)試性驗(yàn)證及指標(biāo)

　　1.1 測(cè)試性驗(yàn)證

　　測(cè)試性這一術(shù)語(yǔ)是1975年首先由F.Liour等人在《設(shè)備自動(dòng)測(cè)試設(shè)計(jì)》一文提出的，隨后相繼用于診斷電路設(shè)計(jì)及研究等各個(gè)領(lǐng)域。測(cè)試性是指能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其狀態(tài)(可工作、不可工作或性能降低)并隔離其內(nèi)部故障的一種設(shè)計(jì)特性。對(duì)裝備戰(zhàn)備完好性、任務(wù)成功性、壽命周期及維修人力具有顯著的影響。在系統(tǒng)研制的不同階段應(yīng)分別實(shí)施測(cè)試性分析、設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，保證系統(tǒng)具有所要求的測(cè)試性。由于現(xiàn)有的裝備大部分未展開測(cè)試性設(shè)計(jì)及驗(yàn)證，而且設(shè)計(jì)之前也沒(méi)有考慮測(cè)試性問(wèn)題，所以測(cè)試性較差，發(fā)生故障時(shí)所需要的檢測(cè)時(shí)間太長(zhǎng)，檢測(cè)準(zhǔn)確率較低。因此，應(yīng)更加注意裝備在研制之前的測(cè)試性設(shè)計(jì)，將合適的測(cè)試性設(shè)計(jì)方案應(yīng)用于每個(gè)系統(tǒng)或設(shè)備的初步設(shè)計(jì)中，對(duì)選用的測(cè)試性設(shè)計(jì)方案進(jìn)行定性分析和評(píng)價(jià)，保證能達(dá)到所要求的測(cè)試性水平。為確定裝備是否滿足規(guī)定的測(cè)試性要求，需要對(duì)測(cè)試性進(jìn)行驗(yàn)證。檢驗(yàn)其測(cè)試性是否合乎要求，掌握裝備檢查發(fā)現(xiàn)異常的能力、檢測(cè)和隔離故障的能力以及用于預(yù)計(jì)測(cè)試性指標(biāo)模型的有效性等。

　　1.2 測(cè)試性指標(biāo)

　　對(duì)測(cè)試性進(jìn)行驗(yàn)證，要明確驗(yàn)證的要求和內(nèi)容。測(cè)試性定量指標(biāo)主要有故障檢測(cè)率(Fault Detection Rate，F(xiàn)DR)、故障隔離率(Fault Isolation Rate，F(xiàn)IR)和虛警率(False Alarm Rate，F(xiàn)AR)。

　　(1)故障檢測(cè)率(FDR)：一般定義是在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，通過(guò)給定測(cè)點(diǎn)能夠在規(guī)定工作時(shí)間T內(nèi)正確檢測(cè)到故障數(shù)ND與規(guī)定工作時(shí)間T內(nèi)發(fā)生故障總數(shù)NT之比，用百分?jǐn)?shù)表示。數(shù)學(xué)公式為：

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　　(2)故障隔離率(FIR)：在規(guī)定時(shí)間內(nèi)，通過(guò)電路所提供的測(cè)點(diǎn)能夠在規(guī)定條件下用規(guī)定方法使正確隔離刀小于等于L個(gè)可更換單元的故障數(shù)NL與同一時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的故障數(shù)ND之比，用百分?jǐn)?shù)表示。數(shù)學(xué)公式為：

?

　　(3)虛警率(FAR)：規(guī)定工作時(shí)間內(nèi)，發(fā)生虛警數(shù)NFA與同一時(shí)間內(nèi)的故障檢測(cè)總數(shù)之比，當(dāng)通過(guò)測(cè)點(diǎn)檢測(cè)到被測(cè)單元有故障，而實(shí)際上該單元沒(méi)有發(fā)生故障。數(shù)學(xué)公式為：

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　　式中：NF為真實(shí)故障檢測(cè)數(shù)。由于虛警率的產(chǎn)生因素較多，包括電路本身、環(huán)境因素、人為因素等。所以在進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證時(shí)，通常采用故障檢測(cè)率和故障隔離率。

　　2 幾種驗(yàn)證評(píng)估方法分析

　　FDR和FIR是電子裝備測(cè)試性最主要的兩個(gè)指標(biāo)，目前國(guó)內(nèi)外普遍采用的指標(biāo)驗(yàn)證方法有兩種：二項(xiàng)分布法和正態(tài)分布法。還有一種超幾何分布法，所需抽樣樣本量小，費(fèi)用低，更加科學(xué)合理。

　　2.1 二項(xiàng)分布法

　　國(guó)軍標(biāo)中采用二項(xiàng)分布法對(duì)FDR和FIR進(jìn)行驗(yàn)證，其數(shù)學(xué)模型為：從樣本總體N中抽取n個(gè)試驗(yàn)樣本，每次抽樣為O～1分布，即或是成功或是失敗，設(shè)成功的概率為q，那么失敗的概率為1-q。在n次抽樣中，成功i次的概率由二項(xiàng)分布來(lái)表達(dá)，即：

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　　二項(xiàng)分布法的判別準(zhǔn)則規(guī)定：n次抽樣中允許失敗的次數(shù)不超過(guò)r次，如果試驗(yàn)中實(shí)際失敗的次數(shù)r’≤r，則判為合格，否則判為不合格。

　　2.2 正態(tài)分布法

　　正態(tài)分布法數(shù)學(xué)模型為：根據(jù)拉普拉斯定理，當(dāng)n→∞時(shí)，二項(xiàng)分布近似為正態(tài)分布，二項(xiàng)分布P(n，k，p)趨近正態(tài)分布N(np，nq，q)，即：

?

　　正態(tài)分布法的判別準(zhǔn)則規(guī)定為：若成功率規(guī)定值為qs，對(duì)n個(gè)樣本中失敗的次數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，正態(tài)分布置信度1-a的成功率單側(cè)置信上、下限為qU，qL，有：

　　qs≥qL接收，否則拒收;

　　qs≥qU接收，否則拒收。

　　試驗(yàn)樣本量n的確定方法有：

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　　式中：Z1-a/2為標(biāo)準(zhǔn)中心正態(tài)分布上側(cè)1-a/2分位點(diǎn);δ為允許偏差，推薦值δ=0.03～O.7，δ=O.01～O.05。

　　2.3 超幾何分布法

　　采用抽樣檢驗(yàn)的方式，依照超幾何分布，在n次抽樣試驗(yàn)中，失敗次數(shù)為r次的概率為：

?

　　在n次試驗(yàn)中，失敗次數(shù)不大于r(成功次數(shù)大于等于，n-r次)的概率定義為超幾何分布函數(shù)，其數(shù)學(xué)模型為：

?

　　當(dāng)樣本總體N足夠大，以至于每抽去一個(gè)樣本對(duì)整個(gè)樣本空間的成功率影響甚微時(shí)，不放回抽取可以近似看成有放回抽取，那么超幾何分布可以用二項(xiàng)分布近似，即若N→∞時(shí)，有：

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　　2.4 三種方法分析

　　使用二項(xiàng)分布法的條件：

　　(1)樣本總體數(shù)量未知;

　　(2)每次抽樣相互獨(dú)立，具有獨(dú)立同分布;

　　(3)確定抽樣方案需給定參數(shù)α，β，q0和q1。

　　正態(tài)分布法的使用條件：

　　(1)樣本總體為未知量;

　　(2)樣本量n→∞，該要求在工程上不現(xiàn)實(shí);

　　(3)確定樣本量和進(jìn)行判決需給定參數(shù)α，qs。

　　超幾何分布法的條件：

　　(1)樣本總量N可以比較小;

　　(2)需給出參數(shù)α，β，q0和q1。

　　分析結(jié)果：超幾何分布法所得試驗(yàn)樣本量小，可以使驗(yàn)證試驗(yàn)更加快速和節(jié)省費(fèi)用。這是因?yàn)榉植伎傮w的確定性，減小了試驗(yàn)的風(fēng)險(xiǎn)，在不增加使用方和承制方風(fēng)險(xiǎn)的情況下，采用超幾何分布法可以減少若干樣本量，所以采用超幾何分布法進(jìn)行編程實(shí)現(xiàn)。

　　3 LabWindows/CVI編程實(shí)現(xiàn)

　　通過(guò)上述分析，確定了測(cè)試性驗(yàn)證的方法，使用LabWindows/CVI編程語(yǔ)言，將超幾何分布法進(jìn)行工程實(shí)現(xiàn)。

　　3.1 語(yǔ)言介紹

　　該語(yǔ)言是National Instruments公司(簡(jiǎn)稱NI公司)推出的交互式C語(yǔ)言開發(fā)平臺(tái)，可以在多種操作系統(tǒng)(Windows98/XP/NT/2000，Mac OS和UNIX)下運(yùn)行，它的特點(diǎn)如下：交互式程序開發(fā);功能強(qiáng)大的函數(shù)庫(kù);靈活的程序調(diào)試手段;高效的編程環(huán)境;開放式框架結(jié)構(gòu);集成式的開發(fā)環(huán)境。這些特點(diǎn)大大增強(qiáng)了該語(yǔ)言的功能，為語(yǔ)言開發(fā)人員提供了理想的軟件開發(fā)平臺(tái)。作為虛擬儀器軟件開發(fā)工具，可將計(jì)算機(jī)資源和儀器硬件有機(jī)地融為一體，有效地使用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和儀器硬件的測(cè)量控制能力，實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)的顯示、存儲(chǔ)和分析處理。開發(fā)者可以利用界面感強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn)，通過(guò)面板、控件和菜單的設(shè)計(jì)和靈活的編程語(yǔ)言，完成所需功能。目前在國(guó)內(nèi)外已經(jīng)得到了較為廣泛的使用。

　　3.2 界面創(chuàng)建與編程實(shí)現(xiàn)

　　界面設(shè)計(jì)主要包括創(chuàng)建用戶界面、在代碼文件中編寫功能程序、運(yùn)行和調(diào)試等。按照要實(shí)現(xiàn)的功能和合理的結(jié)構(gòu)設(shè)置，設(shè)計(jì)出如圖1所示的界面。

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　　首先，創(chuàng)建用戶界面的過(guò)程。根據(jù)所用的參數(shù)和將要實(shí)現(xiàn)的功能，設(shè)計(jì)出如圖界面，其中包括樣本總量、最低可接受值、設(shè)計(jì)目標(biāo)、使用方風(fēng)險(xiǎn)和承制方風(fēng)險(xiǎn)，并且各個(gè)數(shù)值根據(jù)要求設(shè)置，可以修改。其次，屬性修改和路徑匹配。在界面中，用到NUMERIC，TABLE，COMMAND-BUTTON等控件。由于界面有多個(gè)彈出界面，所以應(yīng)對(duì)面板進(jìn)行區(qū)分，例如PANEL1，PANEL2，PANEL3等。調(diào)用時(shí)，應(yīng)確認(rèn)調(diào)用的路徑，明確是

　　在那個(gè)面板中進(jìn)行的。最后，進(jìn)行程序設(shè)計(jì)。在控件設(shè)置完畢后，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)生成一些代碼，主要的功能程序在源程序中添加即可。下面列舉一些用到的程序語(yǔ)句：

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　　所實(shí)現(xiàn)的功能就是通過(guò)運(yùn)算，得出抽樣方案，以供選擇使用，然后與實(shí)際操作中得出的結(jié)論相比較，以判斷該裝備的測(cè)試性設(shè)計(jì)得是否合格。

　　4 結(jié)語(yǔ)

　　介紹了裝備測(cè)試性在進(jìn)行質(zhì)量考核時(shí)的重要作用，其測(cè)試性的好壞就是裝備性能的好壞。在進(jìn)行驗(yàn)證評(píng)估時(shí)所參考的測(cè)試性指標(biāo)，都是對(duì)測(cè)試性進(jìn)行驗(yàn)證的定量指標(biāo)。分析了驗(yàn)證評(píng)估的幾種方法，通過(guò)比較，得出使用超幾何分布法進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)所需樣本量更小，而且準(zhǔn)確率很高。使用虛擬編程語(yǔ)言進(jìn)行界面設(shè)計(jì)，使之用于工程實(shí)踐中，為以后的類似工作提供了參考。