在機(jī)床加工領(lǐng)域，精度是評(píng)判機(jī)床質(zhì)量的重要指標(biāo)之一。而激光干涉儀是一種能夠測(cè)量機(jī)床精度的高精度測(cè)量裝置。它利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，在機(jī)床加工領(lǐng)域有著
2024-03-14 10:51:44
0 激光快速掃描系統(tǒng)在半導(dǎo)體技術(shù)、航空航天、生物醫(yī)學(xué)、納米科學(xué)研究等領(lǐng)域得到了越來越多的應(yīng)用，同時(shí)對(duì)其性能要求也越來越高，受其體積，掃描頻率，掃描精度、掃描分辨率等諸多因素的影響，出現(xiàn)更多小型化、高速化
2024-03-14 10:19:31
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納米定位臺(tái)是一種高精度的微納米級(jí)定位設(shè)備，主要用于微納米加工、顯微鏡下的樣品定位、納米精度的測(cè)量和調(diào)試等領(lǐng)域。內(nèi)置高性能壓電陶瓷，運(yùn)動(dòng)范圍可達(dá)500μm，具有體積小、無摩擦、響應(yīng)速度快、高精度位移
2024-03-05 17:35:20284 
在機(jī)床加工領(lǐng)域，精度是評(píng)判機(jī)床質(zhì)量的重要指標(biāo)之一。而激光干涉儀是一種能夠測(cè)量機(jī)床精度的高精度測(cè)量裝置。它利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，在機(jī)床加工領(lǐng)域有著
2024-03-04 13:35:02478 
雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。
2024-02-28 11:10:51379 
新年伊始，萬象更新。芯明天持續(xù)深挖行業(yè)需求，攻克技術(shù)壁壘，推陳出新，為客戶解決一個(gè)又一個(gè)精密定位技術(shù)的難題。 本次為大家介紹一款一維大負(fù)載電容傳感壓電納米定位臺(tái)-XD605.X90。產(chǎn)品外觀如下
2024-02-22 11:54:12103 
光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)利用白光干涉原理，以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體的表面細(xì)節(jié)，實(shí)現(xiàn)三維顯微成像測(cè)量，被廣泛應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用。了解工作原理與技術(shù)材料學(xué)領(lǐng)域中的光學(xué)3D表面
2024-02-20 09:10:090 中圖白光干涉儀測(cè)粗糙度以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量
2024-02-02 09:17:54
納米級(jí)長(zhǎng)度和位移測(cè)量是光學(xué)精密測(cè)量領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)研究課題，在半導(dǎo)體疊對(duì)誤差測(cè)量（overlay metrology）、精密對(duì)準(zhǔn)與跟蹤等方面具有關(guān)鍵作用。傳統(tǒng)的光學(xué)干涉儀雖然可以實(shí)現(xiàn)納米及亞納米的測(cè)量精度，但系統(tǒng)復(fù)雜、易受環(huán)境干擾。
2024-01-14 10:52:23483 
中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維測(cè)量系統(tǒng)具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)?？蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高
2024-01-12 11:37:08
MetX多元傳感測(cè)量系統(tǒng) 輪廓掃描、對(duì)比—— 系統(tǒng)展示案例 1.軟件可自動(dòng)尋邊掃描整個(gè)閉合曲線，并與導(dǎo)入的CAD理論曲線做輪廓比對(duì)，并輸出圖形報(bào)告;2.可
2024-01-11 15:11:21
、SORI等參數(shù)，同時(shí)生成Mapping圖；2、采用白光干涉測(cè)量技術(shù)對(duì)Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時(shí)建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析
2024-01-09 09:08:07
在自供電氣體傳感器中，最普遍使用的能量采集器包括摩擦電納米發(fā)電機(jī)（TENG）、壓電納米發(fā)電機(jī)（PENG）、熱電發(fā)電機(jī)（TEG）和太陽能電池。
2024-01-08 09:26:20184 
微納米表面輪廓形貌的測(cè)量可以幫助我們了解材料的物理特性、表面形態(tài)以及質(zhì)量狀況。如白光干涉儀是一種常見的微納米表面輪廓儀測(cè)量儀器，常用于研究產(chǎn)品的微觀形貌和粗糙度；而共聚焦顯微鏡大傾角超清納米測(cè)量，在滿足精度的情況下使用場(chǎng)景更具有兼容性。選擇適合的測(cè)量儀器對(duì)于準(zhǔn)確獲取樣品表面形貌和特征至關(guān)重要。
2023-12-20 16:38:09358 
鑒于傳統(tǒng)測(cè)量方法效率低下，無法滿足工件裝配間隙尺寸自動(dòng)測(cè)量的高精度、高速度要求，探討了一種激光掃描裝配間隙尺寸高精度檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，設(shè)計(jì)了系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)和控制系統(tǒng)的總體方案，研究分析了高精度激光掃描檢測(cè)精度、參數(shù)選擇和誤差補(bǔ)償技術(shù)的影響因素。
2023-12-20 14:37:10351 
利用電子學(xué)方法所獲得的最短脈沖要短幾千倍。飛秒激光技術(shù)是近年來發(fā)展迅速的一種先進(jìn)加工技術(shù)，具有極高的加工精度和速度，可以在各種材料表面進(jìn)行微米至納米級(jí)別的刻蝕和加工。
2023-12-14 11:01:12227 
中圖儀器WD4000無圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
P70.Z200系列壓電掃描臺(tái)是一款兼具小體積、大行程、大負(fù)載特點(diǎn)的Z向運(yùn)動(dòng)一維壓電掃描臺(tái)。它采用機(jī)構(gòu)放大原理，無摩擦柔性鉸鏈導(dǎo)向機(jī)構(gòu)內(nèi)置高可靠性壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)，具有中心通孔設(shè)計(jì)，可帶動(dòng)物鏡或樣品實(shí)現(xiàn)
2023-12-07 14:42:51348 
本研究提出了一種基于液-固摩擦電納米發(fā)電機(jī)的微液滴監(jiān)測(cè)方法算法，它可以實(shí)現(xiàn)對(duì)微液滴參數(shù)的無創(chuàng)和自動(dòng)力監(jiān)測(cè)。可以通過電信號(hào)的脈沖頻率和t得到微液滴的頻率、長(zhǎng)度和速度。
2023-12-05 15:23:38312 
工程等諸多領(lǐng)域。薄膜干涉是擴(kuò)展光源照在薄膜上產(chǎn)生干涉的現(xiàn)象，主要包括等傾干涉、劈尖干涉、牛頓環(huán)和邁克爾孫干涉等?；?b class="flag-6" style="color: red">干涉理論的光學(xué)薄膜測(cè)量逐漸成為一類重要的光學(xué)測(cè)量技術(shù)。利用薄膜干涉進(jìn)行光學(xué)測(cè)量最大的特點(diǎn)就是測(cè)量
2023-12-05 10:27:08313 
輪廓儀達(dá)到納米級(jí)別的相移干涉法(PSI)和垂直掃描干涉法(VSI)，具有快速、非接觸的優(yōu)點(diǎn)。它結(jié)合了跨尺度納米直驅(qū)技術(shù)、精密光學(xué)干涉成像技術(shù)、連續(xù)相移掃描技術(shù)三大獨(dú)特
2023-11-29 10:04:380 與其它表面形貌測(cè)量方法相比，SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀達(dá)到納米級(jí)別的相移干涉法(PSI)和垂直掃描干涉法(VSI)，具有快速、非接觸的優(yōu)點(diǎn)。它結(jié)合了跨尺度納米直驅(qū)技術(shù)、精密光學(xué)干涉
2023-11-28 10:59:58241 
激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量的精密儀器。廣泛應(yīng)用于光學(xué)、機(jī)械、電子等各種領(lǐng)域的測(cè)量。其中，平行度和垂直度的測(cè)量是激光干涉儀的重要應(yīng)用之一。傳統(tǒng)的測(cè)量方法通常采用機(jī)械測(cè)量或光學(xué)測(cè)量，但這些
2023-11-21 09:12:500 中圖儀器cnc在線測(cè)量系統(tǒng)廠家PO系列產(chǎn)品是一種配置在數(shù)控機(jī)床上的測(cè)量設(shè)備。一般安裝在數(shù)控車床、加工中心、數(shù)控磨床等數(shù)控機(jī)床上。它在加工循環(huán)中不需人為介入，就能直接對(duì)刀具或工件的尺寸及位置進(jìn)行測(cè)量
2023-11-20 11:43:42
PO40機(jī)床在線測(cè)量系統(tǒng)是一款具有3維5向探測(cè)功能的紅外觸發(fā)機(jī)床測(cè)頭，具有體積小、精度高、傳輸穩(wěn)定、兼容性強(qiáng)等特點(diǎn)。應(yīng)用范圍非常廣泛，主要包括以下幾個(gè)方面：1.加工過程中的自動(dòng)補(bǔ)償通過加工中心測(cè)頭
2023-11-13 10:10:17
影響激光干涉儀測(cè)量精度的環(huán)境因素主要指：1、當(dāng)前測(cè)量環(huán)境下的空氣溫度、濕度、大氣壓力，影響在空氣中傳播的激光波長(zhǎng)。2、被測(cè)工件溫度，影響被測(cè)對(duì)象的熱膨脹量。本文不做分析，將在下篇細(xì)述。激光干涉
2023-11-10 16:49:07535 
中圖儀器Mars系列3d掃描坐標(biāo)測(cè)量儀配備高精度的導(dǎo)軌、測(cè)頭和控制系統(tǒng)，并結(jié)合計(jì)算機(jī)程序來自動(dòng)控制檢測(cè)流程，從而計(jì)算輸出測(cè)量結(jié)果，支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī)，同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等，能夠?qū)Ω鞣N零件和部件
2023-11-10 13:38:12
中圖儀器SJ5730系列納米探針式輪廓儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，分辨率高達(dá)0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm
2023-11-09 09:14:22
激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量的精密儀器。廣泛應(yīng)用于光學(xué)、機(jī)械、電子等各種領(lǐng)域的測(cè)量。其中，平行度和垂直度的測(cè)量是激光干涉儀的重要應(yīng)用之一。
2023-11-08 18:24:58411 
的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下，只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn)，即可自動(dòng)掃描，重建其超光滑的表面區(qū)域，不見一絲重疊縫隙。
白光干涉儀在半導(dǎo)體封裝中對(duì)彈坑的測(cè)量
同時(shí)，白光干涉儀還可以結(jié)合其他測(cè)量手段，如
2023-11-06 14:27:48
中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維形貌測(cè)量儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量，以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-11-01 09:39:26
中圖儀器牽頭的國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃——“六自由度激光自動(dòng)精準(zhǔn)跟蹤測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)"的項(xiàng)目綜合績(jī)效評(píng)價(jià)會(huì)議在深圳順利召開。本項(xiàng)目瞄準(zhǔn)我國(guó)航空航天、汽車船舶、軌道交通、機(jī)器人、核電、大科學(xué)裝置等裝備制造領(lǐng)域
2023-10-27 11:27:00
中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行
2023-10-27 11:23:38
白光干涉儀廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工程實(shí)踐各個(gè)領(lǐng)域中。它作為一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，在測(cè)量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。 白光干涉儀怎么測(cè)量坑的形貌
2023-10-26 10:47:58
白光干涉儀廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工程實(shí)踐各個(gè)領(lǐng)域中。它作為一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，在測(cè)量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。白光干涉儀怎么測(cè)量坑的形貌？它是利用
2023-10-20 09:52:210 中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量儀以白光干涉技術(shù)原理，是對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌
2023-10-17 14:24:27
、Rz等）、微觀輪廓度Pt、波紋度參數(shù)的測(cè)量。產(chǎn)品簡(jiǎn)介SJ5730系列中圖3d輪廓測(cè)量儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)
2023-10-12 09:20:53
，還有一些其他的納米級(jí)測(cè)量儀器也日益成為研究的熱點(diǎn)，例如激光干涉儀。這些測(cè)量工具各有特點(diǎn)，可用于不同的納米級(jí)尺寸測(cè)量需求。
納米級(jí)測(cè)量儀器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著重要的角色。通過共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運(yùn)用，科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。
2023-10-11 14:37:46
什么是決定激光干涉儀測(cè)量精度的關(guān)鍵因素？您正在使用或購(gòu)買的激光干涉儀精度能夠達(dá)到指標(biāo)要求么？如何對(duì)激光干涉儀的精度和性能進(jìn)行驗(yàn)證評(píng)價(jià)？
2023-10-07 16:06:59468 
激光干涉儀作為現(xiàn)代精密測(cè)量儀器的代表，在精密制造、計(jì)量等各個(gè)行業(yè)領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用，在精密位移、直線度、垂直度等測(cè)量領(lǐng)域發(fā)揮著重要的作用。什么是決定激光干涉儀測(cè)量精度的關(guān)鍵因素？您正在使用或購(gòu)買
2023-10-07 14:05:50629 
在進(jìn)行白光干涉儀的樣品測(cè)量時(shí)，需要依據(jù)所測(cè)量的樣品特性，合理選擇樣品的凈度、數(shù)量及厚度。同時(shí)，在實(shí)踐中還需要注意避免光路干擾、保證樣品的平整性等因素，以確保測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-09-28 15:38:42818 
中圖國(guó)產(chǎn)激光干涉儀sj6000采用高性能的穩(wěn)頻氦氖激光器，采用邁克爾遜干涉原理的測(cè)量儀器。具有測(cè)量精度高、量程大、速度快、靈敏度高、抗擾力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。在計(jì)量領(lǐng)域中可作為長(zhǎng)度基準(zhǔn)以及設(shè)備校準(zhǔn)工具
2023-09-28 09:12:11
SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術(shù)原理，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，是一款用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級(jí)測(cè)量儀器。產(chǎn)品簡(jiǎn)介
2023-09-26 14:12:49
SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng)，高精度測(cè)量；隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動(dòng)，消除地面振動(dòng)噪聲和空氣中聲波振動(dòng)
2023-09-13 10:30:22
SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀以白光干涉技術(shù)原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之
2023-09-13 10:25:07
SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。產(chǎn)品功能
2023-09-06 14:34:18
中圖儀器SJ6000激光干涉測(cè)量技術(shù)具有測(cè)量精度高、量程大、速度快、靈敏度高、抗擾力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。在計(jì)量領(lǐng)域中可作為長(zhǎng)度基準(zhǔn)以及設(shè)備校準(zhǔn)工具。它結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度
2023-09-05 10:45:27
GTS激光跟蹤測(cè)量系統(tǒng)主要用于百米大尺度空間三維坐標(biāo)的精密測(cè)量，如在航空航天領(lǐng)域?qū)︼w機(jī)零部件及裝配精度的測(cè)量；在機(jī)床行業(yè)中對(duì)機(jī)床平面度、直線度、圓柱度等的測(cè)量；在汽車制造中對(duì)車型的在線測(cè)量；在制造中
2023-08-30 10:35:56
中圖白光干涉儀粗糙度儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO
2023-08-29 09:00:58
的測(cè)量。 SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面
2023-08-28 10:58:19
、三坐標(biāo)、影像儀、精密測(cè)量、自動(dòng)化、機(jī)器人、3D打印等領(lǐng)域。 在SJ6000激光干涉儀系統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)量軟件配合下，還可實(shí)現(xiàn)線性位移、角度和直線度的動(dòng)態(tài)測(cè)量與
2023-08-25 14:55:34
經(jīng)過不同的光路。然后，這兩束光線再次相遇并疊加在一起，形成干涉圖樣。通過干涉圖樣的變化，我們可以得到材料的相關(guān)信息。
**白光干涉儀只能測(cè)同質(zhì)材料嗎？答案是否定的。**在實(shí)際應(yīng)用中，白光干涉儀的測(cè)量對(duì)象
2023-08-21 13:46:12
的測(cè)量問題。 中圖儀器GTS高精度激光跟蹤測(cè)量系統(tǒng)集激光干涉測(cè)距技術(shù)、光電檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論于一體，可廣泛應(yīng)用在各
2023-08-17 10:01:44
;CHOTEST中圖儀器GTS激光跟蹤系統(tǒng)集激光干涉測(cè)距技術(shù)、光電檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論于一體，同時(shí)具有μm級(jí)別精度、百米工作空
2023-08-08 11:34:35
隨著超精密加工技術(shù)的不斷進(jìn)步，各種微納結(jié)構(gòu)元件廣泛應(yīng)用于超材料、微電子、航空航天、環(huán)境能源、生物技術(shù)等領(lǐng)域。其中超精密3D顯微測(cè)量技術(shù)是提升微納制造技術(shù)發(fā)展水平的關(guān)鍵，中圖儀器自主研發(fā)的白光干涉掃描
2023-08-04 16:12:06
CNC機(jī)床在線測(cè)量系統(tǒng)可以檢測(cè)工件表面的形貌信息，及時(shí)調(diào)整加工中心的工作參數(shù)，使加工質(zhì)量得到有效保證，如在加工高精度零部件時(shí)，如果工件表面出現(xiàn)膨脹或縮小的情況，加工中心測(cè)頭可以實(shí)時(shí)檢測(cè)并相應(yīng)
2023-08-04 10:32:51
壓電納米位移臺(tái)的結(jié)構(gòu) 壓電納米定位臺(tái)具有移動(dòng)面，是通過帶有柔性鉸鏈的機(jī)械結(jié)構(gòu)將壓電陶瓷產(chǎn)生的位移及出力等進(jìn)行輸出，分直驅(qū)與放大兩種結(jié)構(gòu)。以壓電陶瓷作為驅(qū)動(dòng)源，結(jié)合柔性鉸鏈機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)X軸、Z軸、XY
2023-08-02 16:14:422433 
激光跟蹤儀具有高精度、效率高、實(shí)時(shí)跟蹤測(cè)量、安裝快捷、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，適合于大尺寸工件配裝測(cè)量，可以為大型特種作業(yè)車輛制造的各環(huán)節(jié)提供測(cè)量保障。它是基于球坐標(biāo)系的便攜式坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)，由 PC、控制
2023-07-31 09:21:04
CHOTEST中圖儀器PO系列數(shù)控機(jī)床在機(jī)測(cè)量系統(tǒng)也就是機(jī)床測(cè)頭，可以用于精密測(cè)量和檢測(cè)應(yīng)用。比如，在汽車零部件加工中，可以使用測(cè)頭對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)曲軸箱等關(guān)鍵部位進(jìn)行精密測(cè)量和檢測(cè)，以確保其質(zhì)量和可靠性
2023-07-26 13:29:40
CHOTEST中圖儀器白光干涉光學(xué)輪廓儀SuperViewW1采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和優(yōu)異的3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng)，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位
2023-07-24 14:44:10
CHOTEST中圖儀器SuperViewW1白光干涉表面三維輪廓儀通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，是一款對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小
2023-07-20 13:55:55
的高精度測(cè)量。 中圖激光干涉儀系統(tǒng)具有豐富的模塊化組件，可根據(jù)具體測(cè)量需求而選擇不同的組件。主要鏡組為線性鏡組、角度鏡組、直線度鏡組、垂直度鏡組、平面度鏡
2023-07-14 14:38:58
3D三維掃描儀測(cè)量測(cè)技術(shù)采用三角測(cè)量原理準(zhǔn)確獲取工件表面完整三維數(shù)據(jù)的高性能光學(xué)掃描量測(cè)系統(tǒng)是一款先進(jìn)的的解決方案。與傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法相比，非接觸式蔡司光學(xué)掃描測(cè)量方法更快，獲取的數(shù)據(jù)信息量更多
2023-07-11 15:11:391170 
中圖白光干涉儀SuperViewW1利用光學(xué)干涉原理，能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率，非接觸測(cè)量樣品表面形貌，廣泛應(yīng)用于光學(xué)，半導(dǎo)體，材料，精密機(jī)械等等領(lǐng)域，用于表面形貌紋理，微觀結(jié)構(gòu)分析。測(cè)量單個(gè)精細(xì)
2023-06-30 13:38:34
VT6000系列中圖共聚焦激光掃描顯微鏡是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它以共聚焦技術(shù)為原理，在轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同
2023-06-28 13:45:21
機(jī)床在機(jī)測(cè)量頭系統(tǒng)一般安裝在數(shù)控車床、加工中心、數(shù)控磨床等數(shù)控機(jī)床上。它在加工循環(huán)中不需人為介入，就能直接對(duì)刀具或工件的尺寸及位置進(jìn)行測(cè)量，并根據(jù)測(cè)量結(jié)果自動(dòng)修正工件或刀具的偏置量，使同樣的機(jī)床能
2023-06-28 13:35:35
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的光學(xué)3D表面輪廓測(cè)量儀，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸
2023-06-16 11:53:051106 
SJ6000CHOTEST中圖激光干涉儀集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，在計(jì)量領(lǐng)域中可作為長(zhǎng)度基準(zhǔn)以及設(shè)備校準(zhǔn)工具。可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量。在
2023-06-16 10:59:43
白光干涉儀是一種高精度測(cè)量儀器，只要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過
2023-06-09 11:33:44887 
激光干涉儀又稱為干涉測(cè)量裝置，是一種利用光的干涉原理來測(cè)量物體長(zhǎng)度、厚度、形狀、折射率等參數(shù)的儀器。它主要由激光光源，邁克爾遜型或其他形式的干涉光學(xué)系統(tǒng)，光電轉(zhuǎn)換器件為fc的信號(hào)接收系統(tǒng)，可逆計(jì)數(shù)器
2023-06-07 16:24:534620 
優(yōu)可測(cè)的白光干涉儀就是國(guó)產(chǎn)先進(jìn)測(cè)量設(shè)備突圍的典型代表，其在光學(xué)精密測(cè)量領(lǐng)域的成功突圍，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)白光干涉儀的市場(chǎng)空白。
2023-05-31 10:39:14849 
工作方式垂直式工作原理手動(dòng)型價(jià)格區(qū)間面議應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,航天,汽車,綜合 中圖CHOTEST三坐標(biāo)測(cè)量儀支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系
2023-05-26 11:10:44
太赫茲頻率測(cè)量系統(tǒng)說明與示意圖 太赫茲頻率測(cè)量系統(tǒng)是由高萊盒探測(cè)器Golay Cell，太赫茲法布里-珀羅干涉儀（TSFPI），數(shù)據(jù)采集模塊，太
2023-05-24 09:59:35
，型號(hào)為W3的白光干涉儀能夠在空間范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)曲面全自動(dòng)測(cè)量功能，解決其形狀不規(guī)則裝夾不便、測(cè)量點(diǎn)分布不在同一個(gè)面、單次測(cè)量效率低的問題。
測(cè)量發(fā)動(dòng)機(jī)葉片大空間自由曲面
2023-05-23 13:58:04
。 Mars系列中圖測(cè)量儀三坐標(biāo)是移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)
2023-05-22 10:35:29
白光干涉儀又叫做非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀，是以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束，一束
2023-05-22 10:29:332 白光干涉儀又叫做非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀，是以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束，一束
2023-05-19 16:51:46471 
臺(tái)階儀與白光干涉儀，兩者雖然都是表面微觀輪廓測(cè)量利器，但臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量儀器，而白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)非接觸式測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。
2023-05-19 16:38:25410 
的偏置量，使同樣的機(jī)床能加工出更高精度的零件。 中圖儀器PO40機(jī)床在機(jī)測(cè)量系統(tǒng)是一款具有 3 維 5 向探測(cè)功能的紅外觸發(fā)機(jī)床測(cè)頭，具有體積小、精度高、
2023-05-17 14:41:23
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理，能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率，非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量儀器，用于表面形貌紋理，微觀結(jié)構(gòu)分析，用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓
2023-05-15 14:34:231958 
白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)
2023-05-15 11:42:19
上兩期介紹了粗糙度的概念、設(shè)備，也著重說明了白光干涉原理在粗糙度的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)， 而目前半導(dǎo)體、3C制造、材料、精密加工等領(lǐng)域， 除了粗糙度，還會(huì)涉及到臺(tái)階高度測(cè)量，微觀領(lǐng)域的臺(tái)階從幾個(gè)納米到幾百微米
2023-05-11 18:53:03235 
。 一、超精細(xì)粗糙度測(cè)量 （例1）玻璃鏡片 0.05nm 粗糙度測(cè)量 · 優(yōu)可測(cè)白光干涉儀 NA-500拍攝 二、臺(tái)階高度 （例2）掩模版臺(tái)階高度測(cè)量· 優(yōu)可測(cè) 白光干涉儀 EX-230 拍攝 三、形貌
2023-05-11 18:49:44496 
壓電納米定位臺(tái)在精密定位領(lǐng)域中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，可集成于各類高精密裝備，為其提供納米級(jí)運(yùn)動(dòng)控制，且應(yīng)用非常廣泛，例如顯微掃描、光路調(diào)整、納米操控技術(shù)、激光干涉、納米光刻、生物科技、光通信、納米
2023-05-11 08:56:02347 
中圖儀器SJ6000數(shù)控機(jī)床測(cè)量激光干涉儀是國(guó)產(chǎn)光學(xué)干涉儀品牌，可實(shí)現(xiàn)線性、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度、回轉(zhuǎn)軸等幾何參量的高精密測(cè)量；在動(dòng)態(tài)測(cè)量軟件配合下，可實(shí)現(xiàn)線性位移、角度和直線度
2023-05-10 13:51:45
白光干涉表面輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過
2023-05-05 10:46:50
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)就是將信息以各種不同的形式存儲(chǔ)起來。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)是一個(gè)存儲(chǔ)庫持久地存儲(chǔ)和管理數(shù)據(jù)的集合，其中不僅包括像倉(cāng)庫數(shù)據(jù)庫，而且有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)類型，如簡(jiǎn)單的文件、電子郵件等。 芯明天壓電納米定位臺(tái)具有
2023-04-26 16:23:02431 
白光干涉儀和激光共聚焦顯微鏡同為微納米級(jí)表面光學(xué)分析儀器，都具有非接觸式、高速度測(cè)量、高穩(wěn)定性的特點(diǎn)，都有表征微觀形貌的輪廓尺寸測(cè)量功能，適用范圍廣，可測(cè)多種類型樣品的表面微細(xì)結(jié)構(gòu)
2023-04-20 14:38:431599 
SuperViewW1中圖國(guó)產(chǎn)白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件
2023-04-14 14:07:34
本次介紹一款XYZ三維運(yùn)動(dòng)、電容傳感器閉環(huán)的壓電納米定位臺(tái)及相應(yīng)控制器，該電容運(yùn)動(dòng)臺(tái)的型號(hào)為P12.XYZ100C，控制器型號(hào)為E00.D11AL。 P12.XYZ100C壓電納米定位
2023-04-08 08:53:381024 
優(yōu)可測(cè)Atometrics白光干涉儀AM系列搭載著超高精度掃描單元——壓電陶瓷納米級(jí)步進(jìn)！逐層掃描還原真實(shí)三維形貌，讓微小瑕疵、細(xì)微劃傷無所遁形。今天小優(yōu)博士帶您了解壓電陶瓷在白光干涉儀內(nèi)的重要作用
2023-04-07 09:18:19408 
粗糙度、臺(tái)階高度是白光干涉儀最擅長(zhǎng)的測(cè)量工作。小優(yōu)博士也重點(diǎn)說明過在此類測(cè)量應(yīng)用的優(yōu)勢(shì)。白光干涉的超高精度，會(huì)讓很多評(píng)估者無從下手。怎么驗(yàn)證一臺(tái)白光干涉儀的高度測(cè)量能力？小優(yōu)博士給您支招。非常簡(jiǎn)單
2023-04-07 09:17:00379 
上兩期介紹了粗糙度的概念、設(shè)備，也著重說明了白光干涉原理在粗糙度的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)，而目前半導(dǎo)體、3C制造、材料、精密加工等領(lǐng)域，除了粗糙度，還會(huì)涉及到臺(tái)階高度測(cè)量，微觀領(lǐng)域的臺(tái)階從幾個(gè)納米到幾百微米不等
2023-04-07 09:14:47352 
粗糙度測(cè)量（例1）玻璃鏡片0.05nm粗糙度測(cè)量·優(yōu)可測(cè)白光干涉儀NA-500拍攝二、臺(tái)階高度（例2）掩模版臺(tái)階高度測(cè)量·優(yōu)可測(cè)白光干涉儀EX-230拍攝三、形貌
2023-04-07 09:13:16682 
STM32F103ZET6小系統(tǒng)板 DEVB_50X80MM 5V
2023-03-28 13:06:25
STM32F407ZGT6小系統(tǒng)板 DEVB_50X80MM 5V
2023-03-28 13:06:25
ATK-STM32F103ZE最小系統(tǒng)板 DEVB_50×80MM 5V
2023-03-28 13:05:53
ATK-STM32F407ZG最小系統(tǒng)板 DEVB_50×80MM 5V
2023-03-28 13:05:53
中圖儀器堅(jiān)持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ)，集光、機(jī)、電、信息技術(shù)于一體的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，勇于創(chuàng)新，著力突破從微納米到百米測(cè)量的核心技術(shù)，研發(fā)生產(chǎn)出共聚焦顯微鏡、白光干涉儀、激光跟蹤儀、一鍵閃測(cè)儀、影像測(cè)量
2023-03-23 15:39:34560 
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