頁(yè)巖樣品掃描電鏡觀察失效分析

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評(píng)論

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2024-02-01 18:22:15

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2024-01-29 22:40:29

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2024-01-18 13:24:10

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掃描電鏡為什么分辨率高，景深大，立體感強(qiáng)？

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第20講：DIPIPM?市場(chǎng)失效分析（2）

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2023-12-27 15:41:37

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差示掃描量熱儀能測(cè)什么？

差示掃描量熱儀（DifferentialScanningCalorimetry，DSC）是一種常用的熱分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。它可以測(cè)量材料在升溫或降溫過(guò)程中吸熱或放熱

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差示掃描量熱儀是一種熱分析技術(shù)，可以用來(lái)研究材料的熱力學(xué)性質(zhì)和化學(xué)反應(yīng)過(guò)程。在材料研究中，儀器可以用來(lái)研究材料的熱穩(wěn)定性、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、結(jié)晶度、分子間相互作用等性質(zhì)。下面我們將詳細(xì)介紹

2023-12-25 14:17:00

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2023-12-22 15:15:27

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2023-12-20 08:41:04

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掃描電鏡的原理、優(yōu)勢(shì)、應(yīng)用領(lǐng)域你都知道嗎？

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2023-12-18 09:56:12

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2023-12-15 14:11:17

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一文帶您了解場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

1. 工作原理掃描電子顯微鏡以電子束為光源，以光柵式掃描方式將精細(xì)聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理，以獲得顯微形貌的放大圖像

2023-10-23 14:56:39

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電子背散射衍射(EBSD)裝置的基本布局

EBSD 分析系統(tǒng)的基本布局如圖所示。放入掃描電鏡樣品室內(nèi)的樣品經(jīng)大角度傾轉(zhuǎn)后(一般傾轉(zhuǎn) 65°-70°，通過(guò)減小背散射電子射出表面的路徑以獲取足夠強(qiáng)的背散射衍射信號(hào)，減小吸收信號(hào)），入射

2023-10-21 16:51:22

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你了解掃描電鏡的特點(diǎn)和結(jié)構(gòu)嗎

。特點(diǎn) 制樣簡(jiǎn)單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對(duì)于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主

2023-10-19 15:38:30

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HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例

本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。

2023-10-16 15:06:08

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一分鐘帶你了解EBSD的操作過(guò)程

不同型號(hào)掃描電鏡的操作步驟會(huì)有一些差異，各廠家的EBSD系統(tǒng)，特別是控制SEM的軟件都不一致。

2023-10-10 09:25:08

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電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM

不同的波長(zhǎng)λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量，即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式， EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上，進(jìn)行定性或者定量的分析。

2023-09-28 15:54:34

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LGA封裝芯片焊接失效

NO.1 案例背景某攝像頭模組，在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過(guò)初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過(guò)程 #1 X-ray分析樣品#1 樣品#2 測(cè)試結(jié)果：兩個(gè)失效

2023-09-28 11:42:21

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季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高

2023-09-23 09:50:44

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2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)順利召開

（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開。來(lái)自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高?？蒲?/div>

2023-09-13 08:30:05

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各種材料失效分析檢測(cè)方法

失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。

2023-09-12 09:51:47

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功率放大器在掃描顯微鏡中的應(yīng)用有什么

功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關(guān)重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號(hào)增益，使得掃描顯微鏡能夠獲得

2023-09-07 18:28:23

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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。

2023-09-06 10:28:05

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聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】

聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。 1.FIB切片

2023-09-05 11:58:27

蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM

2023-09-04 14:56:47

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集成電路失效分析

集成電路失效分析隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展，人們對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱IC）的需求越來(lái)越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車等都需要使用到

2023-08-29 16:35:13

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芯片失效分析方法芯片失效原因分析

芯片失效分析方法芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。芯片

2023-08-29 16:29:11

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半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化

2023-08-29 16:29:08

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透射電鏡TEM測(cè)試原理及過(guò)程

散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。透射電鏡TEM原理博仕檢測(cè)工程師對(duì)客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點(diǎn)制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品聚焦離子束FI

2023-08-29 14:54:15

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EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用

能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。

2023-08-29 09:43:24

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鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而

2023-08-25 14:27:56

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國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

“在大規(guī)模成像場(chǎng)景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動(dòng)化程度都無(wú)法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對(duì)百億級(jí)神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像

2023-08-09 08:29:23

453

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)

2023-08-08 15:50:35

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蔡司掃描電鏡下金剛石形貌

金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對(duì)稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國(guó)也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無(wú)

2023-08-04 11:50:01

458

SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大

2023-07-31 23:30:26

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蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對(duì)透射電鏡分析而言

2023-07-31 15:59:56

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半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。

2023-07-26 11:23:15

930

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析

2023-07-26 10:48:06

650

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無(wú)交叉光路設(shè)計(jì)，打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需

2023-07-14 16:26:59

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EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別

EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM

2023-07-05 15:24:02

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關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點(diǎn)分析

的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無(wú)法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無(wú)損樣品分析?? 無(wú)需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重

2023-07-05 15:13:38

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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相

2023-07-05 10:04:06

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AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列

近日，蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司

2023-07-04 15:39:24

249

BGA失效分析與改善對(duì)策

2023-06-26 10:47:41

438

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。

2023-06-25 09:02:30

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集成電路封裝失效分析方法

Analysis, DPA)是為防止有明顯缺陷或潛在缺陷的集成電路等被使用，而在指定時(shí)機(jī)、指定機(jī)構(gòu)隨機(jī)抽取適當(dāng)樣品，進(jìn)行一系列破壞性和非破壞性的物理試驗(yàn)和失效分析，是破壞性分析的一類。

2023-06-21 08:53:40

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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)

今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品

2023-06-19 11:15:40

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喜提儀器行業(yè)大獎(jiǎng)！國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎(jiǎng)”

5月18日，2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開幕，并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i

2023-05-30 17:19:16

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芯明天壓電鏡架選型

芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應(yīng)來(lái)控制鏡片位置的光學(xué)機(jī)械。壓電效應(yīng)是指在某些晶體中，如壓電陶瓷，當(dāng)施加電場(chǎng)時(shí)，壓電陶瓷會(huì)發(fā)生形變，通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)將這種形變轉(zhuǎn)換為直線毫米級(jí)行程，該運(yùn)動(dòng)對(duì)鏡架進(jìn)行角度偏轉(zhuǎn)

2023-05-25 10:27:45

350

怎樣進(jìn)行芯片失效分析？

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。

2023-05-13 17:16:25

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TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。

2023-05-12 17:25:48

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進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。

2023-05-10 17:46:31

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Multisim軟件之交流掃描分析

　　交流掃描分析　　交流掃描分析是在正弦小信號(hào)工作條件下的一種頻域分析。它可以計(jì)算電路的幅頻特性和相頻特性，是一種線性分析方法。　　Multisim 軟件在進(jìn)行交流頻率分析時(shí)，首先分析電路的直流

2023-04-27 16:15:27

Multisim直流掃描分析

　　直流掃描分析是計(jì)算電路中某一節(jié)點(diǎn)直流工作點(diǎn)隨著電路中一個(gè)或兩個(gè)直流電源數(shù)值變化情況。在分析前，可以選擇直流電源的變化范圍和增量。在直流掃描分析時(shí)，電路中的所有電容視為開路，所有電感視為短路

2023-04-27 14:48:48

半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹！

失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)

2023-04-18 09:11:21

1360

喜報(bào)！國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)

磁性樣品可適用。光學(xué)導(dǎo)航、完善的自動(dòng)功能、精心設(shè)計(jì)的人機(jī)交互，優(yōu)化的操作和使用流程，無(wú)論經(jīng)驗(yàn)是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務(wù)。場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM4

2023-04-12 11:38:30

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BGA失效分析與改善對(duì)策

2023-04-11 10:55:48

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PCB失效分析技術(shù)總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。

2023-04-10 14:16:22

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北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺(tái)正式開放運(yùn)行

該平臺(tái)擁有超凈間面積約300平方米，其中百級(jí)潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機(jī)、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機(jī)、快速退火爐、精密貼片機(jī)、勻膠機(jī)、離子濺射儀、膜厚計(jì)、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號(hào)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。

2023-04-10 11:24:06

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