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NLAS4717EP 模擬開(kāi)關(guān) 雙SPDT 高帶寬 USB 1.1

數(shù)據(jù):

NLAS4717EP是采用亞微米硅柵CMOS技術(shù)制造的先進(jìn)CMOS模擬開(kāi)關(guān)。該器件是雙獨(dú)立單刀雙擲(SPDT)開(kāi)關(guān),在3.0 V時(shí)具有4.5歐姆的低R DS(on)。該器件還具有保證Break-Before-Make(BBM) )切換,確保開(kāi)關(guān)永遠(yuǎn)不會(huì)使驅(qū)動(dòng)器短路。
NLAS4717EP有兩種小尺寸封裝:
WQFN:1.4 x 1.8 mm mm
微型泵:2.0 x 1.5 mm
<臺(tái)式=“border:none; width:100%;”> 特性
  • 低R DS(on):4.5Ω@ 3.0V
  • 開(kāi)關(guān)之間匹配.5Ω
  • 寬電壓范圍:1.8 V至5.5 V
  • 高帶寬> 90 MHz
  • 1.65 V至5.5 V工作范圍
  • 低引腳4和8上的閾值電壓(CTRL引腳)
  • 超低電荷注入

技術(shù)文檔

數(shù)據(jù)手冊(cè)(1) 相關(guān)資料(3)
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