--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
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--- 產(chǎn)品詳情 ---
SuperViewW1白光干涉儀采用CCD取代了顯微鏡中的目鏡,因而可直接從電腦上實時視頻窗口觀察樣品表面形貌,也可以通過重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌,樣品表面形貌展示得更加清晰,圖像更大,觀察更加方便。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號:SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱:光學(xué)3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng):1024×1024
光學(xué)ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)
干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
XY平臺:尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動、手動同時具備,均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程:100mm,電動
Z向掃描范圍:10mm
Z向分辨率:0.1nm
可測樣品反射率:0.05%-100
水平調(diào)整:±5°手動
粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm
臺階高測量:準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快
生產(chǎn)企業(yè):深圳市中圖儀器股份有限公司
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![5002.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/3B/C2/pYYBAGJOivOABdoBAALhHubRGVU762.jpg)
SuperViewW1白光干涉儀采用經(jīng)國家計量檢測研究院校準(zhǔn)的臺階高標(biāo)準(zhǔn)片作為測量標(biāo)準(zhǔn)件,采用該標(biāo)準(zhǔn)片對儀器的檢測精度和重復(fù)性進行驗收,其中臺階高標(biāo)準(zhǔn)片高度在4.7um左右,測量精度要求為<0.75%,重復(fù)精度要求<0.1%(1σ)(測量15次獲取的數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)差)。
產(chǎn)品功能
1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;
2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;
3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;
4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;
5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;
6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。
![500.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/41/0D/poYBAGJ0xEeAYVvyAAKigJXhQfI315.jpg)
SuperViewW1白光干涉儀主要用于對樣品表面的2D、3D形貌進行測量,主要測量參數(shù)為粗糙度、臺階高、幾何輪廓,主要用于超精密加工行業(yè)。
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