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優(yōu)可測(cè)

優(yōu)可測(cè)是精密測(cè)量領(lǐng)域的國(guó)產(chǎn)自主品牌,致力為半導(dǎo)體、新能源、3C電子、醫(yī)療、刀具、精密光學(xué)等行業(yè)及高校提供三維測(cè)量產(chǎn)品、解決方案及相關(guān)服務(wù)。

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優(yōu)可測(cè)粗糙度儀-粗糙度檢測(cè)

型號(hào): NA500
品牌: Atometrics(優(yōu)可測(cè))

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 像素 500萬(wàn)
  • 掃描原理 白光干涉
  • 掃描范圍 100um
  • 被測(cè)物反射率 0.02%~100%
  • 顯示分辨率 0.001nm
  • RMS重復(fù)性 0.002nm

--- 產(chǎn)品詳情 ---

用途:為半導(dǎo)體、光學(xué)鏡片、材料、3C消費(fèi)類電子、醫(yī)療、刀具等行業(yè)提供納米級(jí)別粗糙度、臺(tái)階高度、微觀形貌、三維形貌比對(duì)、高度、平面尺寸等要素測(cè)量。

特點(diǎn):最高0.03nm精度,業(yè)內(nèi)最快速度,可客制化測(cè)量工具和在線測(cè)量。

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