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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),致力于全尺寸鏈精密測(cè)量?jī)x器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售。

2.8k 內(nèi)容數(shù) 99w+ 瀏覽量 64 粉絲

國(guó)產(chǎn)二次元影像儀品牌

型號(hào): Novator系列
品牌: 中圖儀器(中圖儀器)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 注釋 更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取

--- 產(chǎn)品詳情 ---

全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x智能化和自動(dòng)化程度高,使測(cè)量變得簡(jiǎn)單。

儀器特點(diǎn)

1.非接觸測(cè)量,使得測(cè)量無(wú)形變,適合于測(cè)量薄壁、軟體零件;

2.圖像放大功能強(qiáng),小尺寸測(cè)量能力更強(qiáng);

3.測(cè)量速度快,提高測(cè)量的效率;

4.采點(diǎn)密度高,保證了測(cè)量的高可靠性;

5.裝夾方便

 

CHOTEST中圖儀器Novator國(guó)產(chǎn)二次元影像儀品牌是一種全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x,充分發(fā)揮光學(xué)電動(dòng)變倍鏡頭的高精度優(yōu)勢(shì),將傳統(tǒng)影像測(cè)量與激光測(cè)量掃描技術(shù)相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差、3D空間形貌與尺寸結(jié)構(gòu)等精密測(cè)量。

5262.jpg

Novator國(guó)產(chǎn)二次元影像儀品牌還支持頻閃照明和飛拍功能,可進(jìn)行高速測(cè)量,大幅提升測(cè)量效率;具有可獨(dú)立升降和可更換RGB光源,可適應(yīng)更多復(fù)雜工件表面??捎糜跈C(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、印刷電路板、鐘表、計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域。

 

性能特點(diǎn)
 

激光掃描成像、3D復(fù)合測(cè)量

1.支持點(diǎn)激光輪廓掃描測(cè)量,進(jìn)行高度方向上的輪廓測(cè)量。

2.支持線(xiàn)激光3D掃描成像,可實(shí)現(xiàn)3D掃描成像和空間測(cè)量。

3.VisionX測(cè)量軟件支持多種輪廓測(cè)量和3D空間測(cè)量,無(wú)縫連接2D/3D混合測(cè)量。

線(xiàn)掃測(cè)頭3D形貌測(cè)量.jpg

頻閃照明光源、高速硬件飛拍

1.具備頻閃照明光源,支持頻閃和普通雙模式。

2.支持飛拍模式測(cè)量,測(cè)量效率提升5~10倍。

3.Novator國(guó)產(chǎn)二次元影像儀品牌融入中圖閃測(cè)儀的拼接測(cè)量功能,發(fā)揮綜合優(yōu)勢(shì)。

飛拍測(cè)量模式2.jpg

可更換RGB表光、獨(dú)立升降表光

1.可更換RGB表光和白色表光,適應(yīng)多種復(fù)雜顏色和材料表面。

2.表光可獨(dú)立升降,更好的觀察樣品表面。

3.支持六環(huán)八分區(qū)表面光、透射光、同軸光分段編程控制。

彩色表光系統(tǒng)3.jpg

自動(dòng)測(cè)量,批量更快

1.程序匹配工件坐標(biāo)系,自動(dòng)執(zhí)行測(cè)量流程。

2.支持CAD圖紙和Gerber圖紙導(dǎo)入,坐標(biāo)系匹配測(cè)量。

3、CNC固定坐標(biāo)系模式下,可快速精確地進(jìn)行批量測(cè)量。

 

軟件測(cè)量功能

1.量測(cè)工具:掃描提取邊緣點(diǎn)、多段提取邊緣點(diǎn)、圓形提取邊緣點(diǎn)、橢圓提取、框選提取輪廓線(xiàn)、聚焦點(diǎn)、最近點(diǎn)等。

2.可測(cè)幾何量: 點(diǎn)、線(xiàn)、圓(圓心坐標(biāo)、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、距、線(xiàn)寬、孔位、孔徑、孔數(shù)、孔到孔的距離、孔到邊的距離、弧線(xiàn)中心到孔的距離、弧線(xiàn)中心到邊的距離、弧線(xiàn)高點(diǎn)到弧線(xiàn)高點(diǎn)的距離、交叉點(diǎn)到交叉點(diǎn)的距離等。

3.構(gòu)建特征:交點(diǎn)、中心點(diǎn)、極值點(diǎn)、端點(diǎn)、兩點(diǎn)連線(xiàn)、平行線(xiàn)、垂線(xiàn)、切線(xiàn)、平分線(xiàn)、中心線(xiàn)、線(xiàn)段融合、半徑畫(huà)圓、三線(xiàn)內(nèi)切圓、兩線(xiàn)半徑內(nèi)切圓等。

4.形位公差:直線(xiàn)度、圓度、輪廓度、位置度、平行度、對(duì)稱(chēng)度、垂直度、同心度、平行度等形位公差評(píng)定。

5.坐標(biāo)系:儀器坐標(biāo)系、點(diǎn)線(xiàn)、兩點(diǎn) X、兩線(xiàn)等工件坐標(biāo)系;圖像配準(zhǔn)坐標(biāo)系;可平移、旋轉(zhuǎn)、手工調(diào)整坐標(biāo)系。

6.快速工具:R角、水平節(jié)距、圓周節(jié)距、篩網(wǎng)、槽孔、輪廓比對(duì)、彈簧、O型圈等特殊工具快速測(cè)量。

7.支持公差批量設(shè)置、比例等級(jí)劃分、顏色自定義管理。

光學(xué)測(cè)頭平面度測(cè)量.jpg
光學(xué)測(cè)頭平面度測(cè)量

 

 

Novator二次元影像儀自動(dòng)抓取產(chǎn)品的邊界和表面,尤其是在測(cè)量一些弱邊緣特征(如過(guò)渡曲線(xiàn)、圓角加工等)時(shí)能完成自動(dòng)抓取。結(jié)合專(zhuān)用測(cè)量軟件對(duì)測(cè)繪要素?cái)?shù)據(jù)進(jìn)行處理、評(píng)價(jià)和輸出。在保證精度的前提下,測(cè)量效率更高。

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    SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來(lái)提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
  • 納米級(jí)測(cè)量?jī)x器:窺探微觀世界的利器2023-10-11 13:49

    納米級(jí)測(cè)量?jī)x器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著重要的角色。通過(guò)共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運(yùn)用,科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。
  • 微納共聚焦顯微鏡:檢測(cè)摩擦學(xué)研究的重難點(diǎn)2023-09-22 09:13

    針對(duì)磨損區(qū)域較大、坡度也較為陡峭的生物摩擦和流體摩擦領(lǐng)域,采用中圖VT6000系列共聚焦顯微鏡更加匹配,其遠(yuǎn)勝于光學(xué)3D表面輪廓儀的大角度測(cè)量能力和超景深觀察功能,能夠輕松勝任磨損較為嚴(yán)重的表面形貌檢測(cè),從而幫助研究人員更加精準(zhǔn)的掌握磨損量評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)。
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  • 先進(jìn)封裝廠關(guān)于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26

    BumpMetrologysystem—BOKI_1000在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱(chēng)先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開(kāi)始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,常見(jiàn)的為球狀和柱狀,也有塊狀等其他形狀,下圖所示為各種類(lèi)型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用,從Bondwire