--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 頻譜分析儀 E7405A
- 信號發(fā)生器 E4438C
- 網(wǎng)絡(luò)分析儀 E5062A
- 示波器 TDS3054C
--- 產(chǎn)品詳情 ---
E7405A
E7405A|Agilent E7405A EMC分析儀|惠普EMI測試儀
性能
頻率范圍:30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW)
+12.5 dBm TOI
-150 dBm
+45 dBm二次諧波失真(SHI)
自動EMI測量
對數(shù)掃描
內(nèi)置前置放大器
可選跟蹤發(fā)生器
描述
對您設(shè)計的 EMI 性能進(jìn)行早期評估是產(chǎn)品*的關(guān)鍵。采用 Agilent EMC 預(yù)論證解決方案,您能得到進(jìn)行室內(nèi)預(yù)論證測試需要的全部功能特性,包括預(yù)先編程、自動測量、交互式軟件,以及獲得一致和可重復(fù)結(jié)果的自動測量功能。
新特性! 對數(shù)掃描
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬
新特性! 在 Intern e t 上遠(yuǎn)程觀察和控制 E7400A
全彩色顯示
3.5‘ 磁盤驅(qū)動器
自動 EMI 測量
5 分鐘預(yù)熱
內(nèi)置前置放大器
堅固的便攜式設(shè)計
![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A4/DC/wKgaomUFBlKANNEhADYE93pFu1A806.jpg)
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![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A2/EC/wKgZomUCeq6Af1_JAFgq9zurWfk303.jpg)
E7405A性能
頻率范圍:30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW)
12.5 dBm TOI
≤ -150 dBm
+45 dBm二次諧波失真(SHI)
自動EMI測量
對數(shù)掃描
內(nèi)置前置放大器
可選跟蹤發(fā)生器
高頻信號源:N5183B, N5183A,E8257D,E8247C,E8267D,N5173B
性能描述:
盡早測試設(shè)計的 EMI 性能對于打造*的產(chǎn)品至關(guān)重要。E7405A EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀提供了您需要的功能,使內(nèi)部 EMI 預(yù)先一致性測試成為可能。
EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀通過內(nèi)置更多可以提高生產(chǎn)效率的選件并保證快速交付,為您創(chuàng)造大價值。
輻射發(fā)射
當(dāng)與寬帶天線配合使用時,E7405A 能夠檢測您的被測件散發(fā)的輻射發(fā)射。在沒有反射目標(biāo)的區(qū)域(例如開闊地)或 EMI 室內(nèi),它的表現(xiàn)尤為出眾。
傳導(dǎo)發(fā)射
通過使用線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN)器件或功率吸收鉗,將 E7405A 儀器與電源線或數(shù)據(jù)線耦合,您可以對電源線或數(shù)據(jù)線產(chǎn)生的噪聲或受到的干擾信號進(jìn)行測量。
故障診斷和隔離
如果您遇到發(fā)射問題,可以使用 E7405A 和近場探頭來隔離和診斷故障源。
11940A 近場探頭,30 MHz 至 1 GHz
11941A 近場探頭,9 kHz 至 30 MHz
特性! 對數(shù)掃描
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬
新特性! 在 Internet 上遠(yuǎn)程觀察和控制 E7400A
全彩色顯示 3.5' 磁盤驅(qū)動器
自動 EMI 測量
5 分鐘預(yù)熱
內(nèi)置前置放大器
堅固的便攜式設(shè)計
選件:
11941A 11941A 近場探頭,9 kHz ~ 30 MHz
Agilent 11941A 手持式探頭專門用于測量表面電流的磁場輻射。
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