最后，我們來到了這個(gè)試圖破解功率 MOSFET 數(shù)據(jù)表的“看懂 MOSFET 數(shù)據(jù)表”博客系列的收尾部分。在這個(gè)博客中，我們將花時(shí)間看一看 MOSFET 數(shù)據(jù)表中出現(xiàn)的某些其它混合開關(guān)參數(shù)，并且檢查它們對于總體器件性能的相關(guān)性（或者與器件性能沒什么關(guān)系）。另一方面，諸如 FET 固有體二極管的輸出電荷 （QOSS） 和反向恢復(fù)電荷（Qrr） 等開關(guān)參數(shù)是造成很多高頻電源應(yīng)用中大部分 FET 開關(guān)損耗的關(guān)鍵因素。不好意思，我說的這些聽起來有點(diǎn)兒前言不搭后語，不過設(shè)計(jì)人員在根據(jù)這些參數(shù)比較不同的 FET 時(shí)要小心，這是因?yàn)闇y試條件決定一切，事情往往是如此！圖 1 顯示的是，在 TI CSD18531Q5A 60V MOSFET 的兩個(gè)不同 di/dt 速率上測得的輸出電荷和反向恢復(fù)電荷，這代表了一個(gè)事物的兩個(gè)方面。在左側(cè)，Qrr 在 360A/μs 時(shí)測得的值為 85nC，在右邊，2000A/μs 時(shí)測得的值為 146nC。雖然沒有測量部件的 di/dt 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，但我們已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，為了得到極地的 Qrr，我們的競爭對手將測量時(shí)的 di/dt 速率調(diào)低至 100 A/us。

　　Qrr 甚至可以對測試執(zhí)行性的二極管正向電流 （If） 具有更強(qiáng)的依賴關(guān)系。而進(jìn)一步使事情復(fù)雜化的原因在于，某些廠商未將 QOSS 作為一個(gè)單獨(dú)參數(shù)包含在內(nèi)，而是只將這個(gè)參數(shù)吸收到 Qrr 的技術(shù)規(guī)格當(dāng)中。除了數(shù)據(jù)表中列出的測試條件，事實(shí)上，其它諸如電路板寄生電感和主觀測量方法等考慮也使得比較單獨(dú)廠商數(shù)據(jù)表中的這些參數(shù)變得不太可能。這并不是說這些參數(shù)對于設(shè)計(jì)不重要，而是為了說明，要獲得可靠的比較數(shù)據(jù)，唯一有效的解決方案就是使用通常的方法和電路板對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行獨(dú)立采集。我在這個(gè)系列中將要提到的最后一個(gè)參數(shù)就是開關(guān)時(shí)間。這 4 個(gè)參數(shù)通常由下方圖 2 中的波形定義，并且會出現(xiàn)在每個(gè)廠商的數(shù)據(jù)表中。它們是如此地依賴于電路板和測試條件，以至于 FET 行業(yè)的一位元老級人物（也是個(gè)人導(dǎo)師）經(jīng)常把這些參數(shù)引用為“FET 數(shù)據(jù)表中最沒用的參數(shù)”。本來是為了指示出開關(guān)速度，而實(shí)際上，由于這些參數(shù)是 FET 特性值，所以它們至多只反映出驅(qū)動(dòng)器強(qiáng)度和漏電流。TI 在器件的額定電流上進(jìn)行測試時(shí)將這些參數(shù)包含在內(nèi)，而其它廠商只在 1A ID 上測試這些參數(shù)，其目的在于使它們的器件看起來具有更快的開關(guān)速度。更能說明器件實(shí)際開關(guān)速度的是器件的柵極電荷參數(shù)和內(nèi)部柵極電阻，Rg，這兩個(gè)參數(shù)幾乎不受這些技術(shù)指針差距 （specmanship） “游戲”的影響。