遠(yuǎn)離吸收光的其它波長(zhǎng)的入射光。由于光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)單色器時(shí)有可能從單色器艙內(nèi)及其它光學(xué)元件表面發(fā)生反射，從光學(xué)元件表面以及大氣中的灰塵也可以發(fā)生散射，這些都會(huì)產(chǎn)生雜散光。雜散光的存在會(huì)對(duì)比爾定律產(chǎn)生偏移。另：一般指超出眼睛網(wǎng)膜視線之光線。

　　雜散光的來(lái)源編輯產(chǎn)生雜散光的原因很多，其最主要的原因大致有以下9個(gè)方面：1. 灰塵沾污光學(xué)元件（如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等）；2. 光學(xué)元件被損傷，或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷（如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等）；3.準(zhǔn)直系統(tǒng)內(nèi)部或有關(guān)隔板邊緣的反射；4.光學(xué)系統(tǒng)或檢測(cè)器沒有作適當(dāng)?shù)钠帘?，“室光”直接進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)；5.熱輻射或熒光引起的二次發(fā)射；6.狹縫的缺陷；7.光束孔徑不匹配；8.光學(xué)系統(tǒng)的相差；9.單色器內(nèi)壁黑化處理不當(dāng)。以上9個(gè)方面中，光柵是雜散光的主要來(lái)源。它產(chǎn)生的雜散光占總雜散光約80%。［1］

　　雜散光的重要性編輯雜散光是紫外可見分光光度計(jì)非常重要的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)。它是紫外可見分光光度計(jì)分析誤差的主要來(lái)源，它直接限制被分析測(cè)試樣品濃度的上限。當(dāng)一臺(tái)紫外可見分光光度計(jì)的雜散光一定時(shí)，被分析的試樣濃度越大，其分析誤差就越大。ASTM認(rèn)為：“雜散光可能是光譜測(cè)量中主要誤差的來(lái)源。尤其對(duì)高濃度的分析測(cè)試時(shí)，雜散光更加重要”。有文獻(xiàn)報(bào)道，在紫外可見光區(qū)的吸收光譜分析中，若儀器有1%的雜散光，則對(duì)A為2.0的樣品測(cè)試時(shí)，會(huì)引起2%的分析誤差。因此，認(rèn)真研究雜散光，以便減少或降低雜散光對(duì)光譜分析的影響，是光譜儀器研制者和使用者們必須高度重視的問(wèn)題。