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晶圓測試

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晶圓測試技術(shù)

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隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,晶圓接受測試(Wafer Acceptance Test,WAT)在半導(dǎo)體制造過程中的地位日益凸顯。WAT測試的核心目標(biāo)是確保...

2025-01-23 標(biāo)簽:測試晶圓晶圓測試 418 0

芯片測試的基本流程是什么

在開始量產(chǎn)之前,芯片設(shè)計(jì)師會(huì)進(jìn)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證,以確保芯片的設(shè)計(jì)滿足規(guī)格要求。這包括功能驗(yàn)證、時(shí)序驗(yàn)證和電氣驗(yàn)證等,確保芯片在理論設(shè)計(jì)上沒有問題。

2024-05-08 標(biāo)簽:芯片測試晶圓測試 2279 0

LTCC/HTCC基板在晶圓測試探針卡中的應(yīng)用

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在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測試,就是對晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測,以檢測...

2023-05-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶圓LTCC 1438 0

半導(dǎo)體晶圓測試的探針卡制作及應(yīng)用

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精密陶瓷基板具有優(yōu)良的電絕緣性、高導(dǎo)熱性、高附著強(qiáng)度和大的載流能力。使用溫度范圍寬,可以達(dá)到-55℃~850℃,熱膨脹系數(shù)接近于硅芯片。在多溫區(qū)測試環(huán)境...

2023-05-19 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體測試探針卡 4648 0

一文淺析半導(dǎo)體后端工藝

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制作半導(dǎo)體產(chǎn)品的第一步,就是根據(jù)所需功能設(shè)計(jì)芯片(Chip)。然后,再將芯片制作成晶圓(Wafer)。由于晶圓由芯片反復(fù)排列而成,當(dāng)我們細(xì)看已完成的晶圓...

2023-05-11 標(biāo)簽:半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)晶圓測試 2784 0

半導(dǎo)體晶圓測試的探針卡與LTCC/HTCC的聯(lián)系

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晶圓測試的方式主要是通過測試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測試過程中,測試機(jī)臺(tái)并不能直接對待測晶圓進(jìn)行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Pro...

2023-05-08 標(biāo)簽:LTCC晶圓測試陶瓷基板 1675 0

高頻探針卡的定義、原理、種類、適用范圍以及使用注意事項(xiàng)

高頻探針卡是芯片、晶圓測試中的重要工具,它可以將高頻信號從芯片中提取出來并進(jìn)行分析,是芯片、晶圓測試世界中的神器。

2023-03-27 標(biāo)簽:晶圓探針探針卡 2462 0

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芯片中的CP一般指的是CP測試,也就是晶圓測試(Chip Probing)。

2022-07-12 標(biāo)簽:芯片封裝CP 1.7萬 0

MEMS傳感器晶圓級測試與成品級測試淺析

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本文將從MEMS傳感器晶圓級測試與成品級測試這兩個(gè)層面,淺析了目前現(xiàn)狀及問題,提出了一些有待商榷的解決辦法。

2016-10-25 標(biāo)簽:MEMS傳感器晶圓測試 6511 0

降低成本提高效率 MEMS動(dòng)態(tài)晶圓測試系統(tǒng)

STI3000動(dòng)態(tài)晶圓級測試系統(tǒng)采用STI的專利技術(shù)(DST),通過一個(gè)驅(qū)動(dòng)電壓在晶圓上驅(qū)動(dòng)MEMS移動(dòng),從而測量由此產(chǎn)生的相關(guān)各種特性,是目前全世界最...

2013-02-27 標(biāo)簽:MEMS晶圓測試 2104 1

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晶圓測試資訊

京元電資本支出大增,專注AI芯片測試

晶圓測試大廠京元電近日宣布重大決策,董事會(huì)決定將今年資本支出大幅提升至138.28億元新臺(tái)幣,較原計(jì)劃53.14億元新臺(tái)幣激增1.6倍,這一數(shù)字也創(chuàng)下了...

2024-08-10 標(biāo)簽:京元電晶圓測試AI芯片 1177 0

Melexis在馬來西亞開設(shè)最大晶圓測試廠,押注半導(dǎo)體需求翻倍

微電子解決方案領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè)Melexis宣布了一項(xiàng)重大投資計(jì)劃,斥資約7000萬歐元(約合7600萬美元)在馬來西亞砂拉越州古晉市建立了一座全新的晶圓...

2024-07-19 標(biāo)簽:半導(dǎo)體Melexis晶圓測試 1213 0

Melexis馬來西亞晶圓測試基地盛大落成,實(shí)現(xiàn)戰(zhàn)略擴(kuò)張

2024年07月10日,馬來西亞古晉——全球微電子工程公司邁來芯宣布,其位于馬來西亞砂拉越州古晉的全球最大晶圓測試基地已圓滿落成。此次擴(kuò)張不僅標(biāo)志著邁來...

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Melexis馬來西亞晶圓測試基地圓滿落成

邁來芯宣布,其位于馬來西亞砂拉越州古晉的全球最大晶圓測試基地已圓滿落成。此次擴(kuò)張不僅標(biāo)志著邁來芯對半導(dǎo)體增長需求的積極響應(yīng),也體現(xiàn)公司在亞太地區(qū)擴(kuò)大的影...

2024-07-11 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體Melexis 814 0

AI ASIC芯片帶動(dòng)封測與載板需求,臺(tái)廠打入供應(yīng)鏈

在晶圓測試領(lǐng)域,京元電在gpu芯片測試領(lǐng)域的市場占有率較高,成為美國ai芯片工廠的主要測試伙伴,最快將從明年開始在ai asic芯片測試領(lǐng)域逐漸擴(kuò)大規(guī)模...

2023-12-07 標(biāo)簽:晶圓測試GPU芯片AI芯片 1023 0

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完美的量產(chǎn)測試設(shè)計(jì)方案應(yīng)具備的特點(diǎn)是能篩出所有的不良品,讓所有的好品通過測試,提高產(chǎn)品良率,提供有用的測試失敗信息,測試時(shí)間最短,并測數(shù)最高,量產(chǎn)維護(hù)更...

2023-11-20 標(biāo)簽:芯片半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)晶圓測試 1771 0

從晶圓測試角度來看,使小芯片(Chiplet)成為主流技術(shù)所面臨的最大挑戰(zhàn)是什么?

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2022-12-23 標(biāo)簽:芯片晶圓測試chiplet 999 0

低溫晶圓測試正在升溫——低溫測試儀

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FormFactor的RFgenius晶圓上S參數(shù)測量套件

推出RFgenius晶圓上S參數(shù)測量套件 ????????FormFactor的RFgenius晶圓上S參數(shù)測量套件包括以實(shí)惠的價(jià)格實(shí)現(xiàn)精確測量所需的所...

2022-06-29 標(biāo)簽:S參數(shù)晶圓測試 895 0

小芯片成為主流技術(shù)的最大挑戰(zhàn)是什么

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2022-06-24 標(biāo)簽:芯片晶圓測試 972 0

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晶圓測試數(shù)據(jù)手冊

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