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標(biāo)簽 > DFT設(shè)計
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眾所周知,經(jīng)過一系列工藝制成的芯片,內(nèi)部是復(fù)雜多樣的,其電路中可能存在著很多制造上的缺陷,并且芯片產(chǎn)生故障的原因也是多樣的,可能是連線的短路或開路,摻雜...
2023-09-15 標(biāo)簽:仿真器PIN管DFT設(shè)計 3715 0
在進(jìn)行DFT Logic的設(shè)計和插入之前,DFT工程師會先使用EDA工具對原Design執(zhí)行DRC(Design Rule Checking),即設(shè)計規(guī)則檢查。
MBIST BAP的配置方法與時鐘連接結(jié)構(gòu)
BAP(BIST Access Port),即內(nèi)建自測試訪問接口,主要用于In System Test,它要求芯片在已經(jīng)部署到產(chǎn)品中,甚至芯片正在運行中...
什么是DFT?我們?yōu)槭裁葱枰??DFT可以永久的消除故障嗎?
如今,半導(dǎo)體是整個電子行業(yè)不斷發(fā)展的核心。新技術(shù)的發(fā)展,尤其是先進(jìn)技術(shù)節(jié)點,如7nm及以下工藝,使集成電路行業(yè)能夠跟上消費者不斷增長的性能需求,也即摩爾...
生產(chǎn)測試的目的是把好的物品和有瑕疵的物品分離出來,集成電路行業(yè),測試的目標(biāo)是把功能正確的芯片和有瑕疵的芯片分離出來,保證客戶使用的是功能完整的芯片。
2023-09-15 標(biāo)簽:寄存器晶體管DFT設(shè)計 2366 0
SoC子組件(IP)通常來自各種來源 - 內(nèi)部和外部 - 因此設(shè)計人員必須確保RTL是可測試的。如果RTL存在可測試性問題,則無法滿足測試覆蓋率目標(biāo),并...
2019-08-09 標(biāo)簽:PCB打樣華強(qiáng)PCBDFT設(shè)計 7067 0
芯來科技攜手戰(zhàn)略伙伴為RISC-V CPU IP提升DFT可測試性設(shè)計
近日,芯來科技攜手杭州廣立微電子股份有限公司(以下簡稱“廣立微”)及上海億瑞芯電子科技有限公司(以下簡稱“億瑞芯”),共同建立在Design for T...
2024-01-19 標(biāo)簽:處理器芯片設(shè)計DFT設(shè)計 756 0
本內(nèi)容介紹了DFT可測試性設(shè)計的相關(guān)知識,并列舉了3中常見的可測性技術(shù)供大家學(xué)習(xí)
2012-05-30 標(biāo)簽:DFTDFT設(shè)計 7494 0
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