摘要：該應(yīng)用筆記包含了一些基本的操作程序，可幫助工程師利用Advantest? R3132頻譜分析儀(或類(lèi)似頻譜分析儀)完成對(duì)回波損耗的測(cè)量，并提供了在實(shí)驗(yàn)室測(cè)量回波損耗的相關(guān)知識(shí)。其中一些特定的按鍵操作只適用于R3132頻譜分析儀，但是一些基本的操作程序?qū)λ械念l譜分析儀都適用。該應(yīng)用筆記并不是一個(gè)的全面的使用指南，讀者還需要掌握一些頻譜分析儀的基本操作知識(shí)。

回波損耗要求

E3、ITU G.703和ETS 300-686規(guī)定的輸入回波損耗如表1所列，輸出回波損耗要求如表2所列。

表1. 輸入端最小回波損耗

Frequency Range (kHz)	Return Loss (dB)
860 to 1720	12
1720 to 34,368	18
34,368 to 51,550	14

表2. 輸出端最小回波損耗

Frequency Range (kHz)	Return Loss (dB)
860 to 1720	6
1720 to 51,550	8

Dallas Semiconductor線(xiàn)路接口單元(LIU)的回波損耗測(cè)量

ETS 300-686規(guī)范中的A.2.5和A.2.6細(xì)則給出了測(cè)量E3回波損耗的測(cè)試設(shè)備和程序。圖1所示測(cè)試裝置用于測(cè)量輸入回波損耗，并驗(yàn)證是否符合表1要求。輸出回波損耗的測(cè)量裝置與之相似，只將原本連接到接收機(jī)輸入端的測(cè)量裝置連接到發(fā)射機(jī)的輸出端即可。


圖1. 回波損耗測(cè)量裝置

圖1所示Dallas Semiconductor器件測(cè)量裝置中，回波損耗測(cè)試橋路采用的是Wide Band Engineering, Inc.的A57TLSTD。兩個(gè)50Ω/75Ω阻抗轉(zhuǎn)換器(Wide Band Engineering的A65L)用來(lái)連接75Ω橋路與50Ω信號(hào)發(fā)生器、50Ω頻譜分析儀端口。圖1中橋路右側(cè)的75Ω精密電阻是回波損耗測(cè)試橋路的一個(gè)部件。Advantest R3132頻譜分析儀在圖1中同時(shí)作為信號(hào)發(fā)生器和頻譜分析儀。

在圖1所示的裝置中，信號(hào)發(fā)生器的頻率范圍為860kHz至51,550kHz，提供峰值為1V的正弦信號(hào)。

若要在測(cè)量回波損耗之前檢查測(cè)試裝置，電橋的NTP接口(圖1左側(cè)接口)應(yīng)連接至75Ω (±0.25Ω)測(cè)試負(fù)載。在圖1所示裝置中，這個(gè)精密電阻是Wide Band Engineering回波損耗測(cè)試橋路的一個(gè)元件。用該電阻作為測(cè)試負(fù)載時(shí)，回波損耗應(yīng)比表1所要求的回波損耗高20dB。

頻譜分析儀的主要功能

測(cè)量回波損耗所需要的主要功能為以下六項(xiàng)：

1. 頻率設(shè)置
2. 基準(zhǔn)電平設(shè)置
3. 帶寬、掃描時(shí)間、觸發(fā)控制設(shè)置
4. 跟蹤發(fā)生器設(shè)置
5. 跟蹤控制設(shè)置
6. 利用標(biāo)記功能測(cè)量回波損耗(以dB為單位)

頻率設(shè)置

下述步驟用來(lái)設(shè)定頻譜分析儀的頻率范圍：

1. 按下前面板的FREQ鍵。
2. 按下軟鍵#2 (Start)，用數(shù)字小鍵盤(pán)配合單位鍵(GHz、MHz、kHz或Hz)輸入起始頻率。由表1和表2可知，輸入端口和輸出端口的起始頻率均為860kHz，如圖2所示。
   
   
   圖2. 設(shè)置起始頻率為860kHz
   
   
3. 按下軟鍵#3 (Stop)，用數(shù)字小鍵盤(pán)配合單位鍵(GHz、MHz、kHz或Hz)輸入截止頻率。由表1和表2可知，輸入端口和輸出端口的截止頻率均為51.55MHz,如圖3所示。
   
   
   圖3. 設(shè)置截止頻率為1.55MHz
   
   
4. 其余設(shè)置可以采用缺省值。

基準(zhǔn)電平設(shè)置

下述步驟用來(lái)設(shè)定頻譜分析儀的基準(zhǔn)電平：

1. 按下前面板的LEVEL鍵。
2. 按下軟鍵#2 (ATT)，選擇AUTO。
3. 按下軟鍵#3 (dB/div)，選擇dB/div顯示方式。選擇軟鍵#1 (10dB/div)作為每刻度對(duì)應(yīng)的分貝值，如圖4所示。然后按RETURN鍵。
   
   
   圖4. 選擇10dB/div作為每刻度對(duì)應(yīng)的分貝值
   
   
4. 按下軟鍵#5 (Units)并選擇軟鍵#1 (dBm)作為期望的顯示單位，如圖5所示，然后按RETURN鍵。
   
   
   圖5. 選擇dBm作為顯示單位
   
   
5. 按下軟鍵#1 (Ref Level)，用數(shù)字小鍵盤(pán)輸入期望的基準(zhǔn)電平。也可用旋鈕選擇所期望的電平。我們使用0.1dBm來(lái)測(cè)量回波損耗。
6. 其余設(shè)置可以采用缺省值。

帶寬、掃描時(shí)間和觸發(fā)控制設(shè)置

下述步驟用來(lái)設(shè)定頻譜分析儀的帶寬、掃描時(shí)間和觸發(fā)控制：

1. 按下CONTROL板的BW鍵。
2. 按下軟鍵#7 (Auto All)，自動(dòng)設(shè)置分辨率和視頻帶寬。
3. 按下CONTROL板的SWEEP鍵。
4. 按下軟鍵#2 (Auto All)，自動(dòng)設(shè)置掃描時(shí)間。
5. 按下軟鍵#6 (Gated Sweep)，選擇OFF。
6. 按下軟鍵#7 (Ext Gate In)，選擇OFF。
7. 按下CONTROL板的TRIG鍵。
8. 按下軟鍵#1 (Trig Source)，選擇Free Run并單擊RETURN鍵。
9. 其余設(shè)置可以采用缺省值。

跟蹤發(fā)生器設(shè)置

下述步驟用來(lái)設(shè)定頻譜分析儀的跟蹤發(fā)生器輸出：

1. 按下前面板的TG鍵。
2. 按下軟鍵#1 (TG Level)，用數(shù)字小鍵盤(pán)配合單位鍵(+dBm或-dBm)輸入所要求的輸出信號(hào)電平值?？墒褂眯o調(diào)整輸出信號(hào)電平。我們使用0.0dBm來(lái)測(cè)量回波損耗。
3. 按下軟鍵#4 (Ref Line，設(shè)置基準(zhǔn)電平對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行歸一化處理。用數(shù)字小鍵盤(pán)配合單位鍵(+dBm或-dBm)輸入所要求的基準(zhǔn)電平?？墒褂眯o調(diào)整輸出信號(hào)電平，我們使用-20dBm來(lái)測(cè)量回波損耗。
4. 按下軟鍵#3 (Norm Corr)，選擇OFF。禁止歸一化處理，可在下一步驟中保存一組新的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
5. 按下軟鍵#2 (Execute Normalize)，保存校準(zhǔn)數(shù)據(jù)并將輸入信號(hào)歸一化到基準(zhǔn)電平。
6. 其余設(shè)置可以采用缺省值。

跟蹤控制設(shè)置

下述步驟用來(lái)設(shè)定頻譜分析儀的跟蹤振蕩器：

1. 按下CONTROL板的TRACE鍵。
2. 按下軟鍵#1 (Write A)，顯示輸入信號(hào)軌跡。
3. 按下軟鍵#5 (Detector)，選擇期望的信號(hào)軌跡檢測(cè)方式(Normal、Posi、Negi或Sample)。Normal同時(shí)顯示正峰值和負(fù)峰值；Posi只顯示正峰值；Negi只顯示負(fù)峰值；Sample顯示當(dāng)前的信號(hào)軌跡。為了測(cè)量回波損耗，選擇軟鍵#4 (Sample)，如圖6所示，然后單擊RETURN鍵。
   
   
   圖6. 選擇Sample方式顯示當(dāng)前信號(hào)軌跡
   
   
4. 按下軟鍵#7 (1/2，more)顯示下一個(gè)軟鍵的設(shè)置。選擇軟鍵#1 (AVG A)，保持它在ON模式，按下RETURN鍵。再次按軟鍵#7 (2/2，more)返回到軟鍵的初始設(shè)置。
5. 其余設(shè)置可以采用缺省值。

測(cè)量回波損耗(以dBm為單位)

1. 按下MARKER板上的MEAS鍵。
2. 按下圖7所示軟鍵#1 (Noise/Hz)。
   
   
   圖7. 為回波損耗測(cè)量選擇Noise/Hz
   
   
3. 按下軟鍵#1 (dBm/Hz)。
   
   
   圖8. 為回波損耗測(cè)量選擇dBm/Hz
   
   
4. 按下軟鍵#7 (Noise/Hz OFF)，如圖8所示。
5. 將75Ω負(fù)載接入測(cè)試橋路，測(cè)量其dB值。
   
   
   圖9. 帶有75Ω負(fù)載的回波損耗
   
   
6. 按下MARKER板的MKR鍵，然后利用旋鈕選擇要測(cè)量的頻率值，測(cè)量該頻率處的回波損耗，如圖9所示。
7. 連接被測(cè)器件(DUT)和測(cè)試橋路，利用旋鈕選擇要測(cè)量的頻率值，測(cè)量該頻率處的回波損耗。我們將測(cè)量860kHz、1.720MHz、34.3680MHz和51.55MHz處的回波損耗。使用旋鈕選擇這些頻率的某一個(gè)值。用戶(hù)也可以選擇自己感興趣的頻率并測(cè)量回波損耗。
8. 測(cè)量被測(cè)器件(DUT)在860kHz處的回波損耗，如圖10所示。
   
   
   圖10. 被測(cè)器件(DUT)在860kHz處的回波損耗
   
   
9. 測(cè)量被測(cè)器件(DUT)在1.72MHz處的回波損耗，如圖11所示。
   
   
   圖11. 被測(cè)器件(DUT)在1.72MHz處的回波損耗
   
   
10. 測(cè)量被測(cè)器件(DUT)在34.368MHz處的回波損耗，如圖12所示。
    
    
    圖12. 被測(cè)器件(DUT)在34.37MHz處的回波損耗
    
    
11. 測(cè)量被測(cè)器件(DUT)在51.35MHz處的回波損耗，如圖13所示。
    
    
    圖13. 被測(cè)器件(DUT)在51.35MHz處的回波損耗