：光學(xué)薄膜是改變光學(xué)零件表面特征而鍍?cè)?b class="flag-6" style="color: red">光學(xué)零件表面上的一層或多層膜。可以是金屬膜、介質(zhì)膜或這兩類(lèi)膜的組合。光學(xué)薄膜是各種先進(jìn)光電技術(shù)中不可缺少的一部分，它不僅能改善系統(tǒng)性能，而且是滿(mǎn)足設(shè)計(jì)目標(biāo)的必要手段，光學(xué)薄膜的應(yīng)用領(lǐng)域設(shè)及光學(xué)系統(tǒng)的各個(gè)方面，包括激光系
2016-01-21 10:59:38
2413 光學(xué)測(cè)試技術(shù)光學(xué)測(cè)試技術(shù)
2012-11-20 16:47:57
氣體壓力下沉淀薄膜，薄膜中滲入了大量的氧。在反應(yīng)沉淀金屬氧化物的工藝中，可以利用這個(gè)引入氧，促進(jìn)和金屬反應(yīng)。在制備純的金屬薄膜中，存在氧和氮雜質(zhì)的明顯影響是降低電導(dǎo)率、反射率以及其他的一些特性，如硬度等。
2016-12-08 11:08:43
的消光系數(shù)就是與吸收相關(guān)的參數(shù)。它所代表的損失取決于它的測(cè)量方法。因此我們寫(xiě)了一個(gè)光學(xué)薄膜 1=R+T+A(1)如果結(jié)果以百分比表示，則左側(cè)變?yōu)?00。這就是設(shè)計(jì)吸收率的計(jì)算方法。 現(xiàn)在讓我們考慮一層
2021-10-19 16:39:08
1CDTFC.Essential.Macleod.v9.7.0 1CD（完備的光學(xué)薄膜分析與設(shè)計(jì)的軟件包）Macleod 設(shè)計(jì)軟件英文手冊(cè)Macleod 中文圖解說(shuō)明書(shū) Optcalc v2001
2015-06-06 13:43:13
元件的傳統(tǒng)FPI干涉儀一樣，基于薄膜技術(shù)的FPI干涉儀也可以作為光學(xué)濾波器。如圖3所示，干涉儀的透射峰是周期性的，隨著鏡面反射率的增加，透射譜的精細(xì)度越來(lái)越高。在自由光譜范圍內(nèi)，干涉儀只有一個(gè)透射峰
2020-05-18 18:00:14
請(qǐng)教大神有誰(shuí)用labview做光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)嗎？labview怎么導(dǎo)入cie1931呀？
2016-02-01 11:27:46
我需要有關(guān) VL53L5CX Ultra Lite Driver (ULD) 的技術(shù)信息。具體來(lái)說(shuō)，vl53l5cx_get_ranging_data()函數(shù)返回的反射率值是什么格式？我假設(shè)格式是一
2022-12-06 06:10:37
*************EMD代理美國(guó)SCI高精準(zhǔn)薄膜度量系統(tǒng)與軟件分析產(chǎn)品，美國(guó)SCI為世界薄膜度量系統(tǒng)和分析軟件行業(yè)的領(lǐng)軍者，提供專(zhuān)業(yè)的光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)，材質(zhì)分析，橢圓偏振/分光光度測(cè)定軟件。目前SCI的光學(xué)薄膜軟件有
2008-09-22 23:23:38
無(wú)嚴(yán)格要求的特點(diǎn)。因此，目前檢測(cè)半導(dǎo)體材料電阻率，尤其對(duì)于薄膜樣品來(lái)說(shuō)，四探針是較常用的方法?！ ∷奶结樇夹g(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時(shí)，測(cè)試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過(guò)樣品的幾何參數(shù)，輸出電流源和測(cè)到的電壓值來(lái)計(jì)算得出。
2021-01-13 07:20:44
大賽璐一體黑光學(xué)防爆膜/此效果是通過(guò)介于反射工藝濕涂和蒸鍍臨界點(diǎn)的技術(shù)，從而實(shí)現(xiàn)屏幕點(diǎn)亮?xí)r屏幕高清高透，不點(diǎn)亮?xí)r屏幕呈現(xiàn)一體黑亮的外觀視覺(jué)沖擊效果。/AR防反射膜，厚度78um,透過(guò)率94%，表面
2019-08-09 17:40:45
。光纖反射器具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低、制造容易、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)，主要參考的參數(shù)特征是插入損耗小、高回?fù)p、高反射率。添加或排除故障時(shí)檢查用戶(hù)的光學(xué)連續(xù)性，反射器體積小的特點(diǎn)可以令其方便串聯(lián)放置在用戶(hù)末端
2019-01-08 11:27:41
微波暗箱反射率電平分析測(cè)量方法有哪些？這么做有什么好處？
2019-08-08 07:09:26
密度較高且范圍較大時(shí)，需要寬頻帶的信號(hào)源進(jìn)行掃頻，這給反射計(jì)的設(shè)計(jì)帶來(lái)的巨大的困難。本文通過(guò)分析不同頻率時(shí)電磁波的反射率和等離子體碰撞頻率對(duì)電磁波反射率的影響，設(shè)計(jì)了一種標(biāo)量的反射計(jì)，反射計(jì)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且不需掃頻即可測(cè)量大范圍的等離子體密度。
2019-06-10 07:36:44
,獲得了樣品內(nèi)的溫度場(chǎng)分布。為驗(yàn)證所求解,模擬計(jì)算了不同光斑形狀和光斑尺寸激光束照射下樣品的溫升曲線,并與有限元數(shù)值計(jì)算結(jié)果進(jìn)行了比較,獲得了較好的一致性,討論了此精確物理模型中不同熱交換系數(shù)對(duì)激光束照射下光學(xué)薄膜
2010-04-22 11:40:34
用分光計(jì)測(cè)光學(xué)玻璃折射率分光計(jì)——精確測(cè)量角度的基本光學(xué)儀器  
2008-12-04 02:07:45
用分光計(jì)測(cè)光學(xué)玻璃折射率精確測(cè)量光線偏折的角度是光學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)重要內(nèi)容 &
2008-12-05 15:54:20
(CCD)表面不同的位置上去。如下圖5所示。圖5. 使用波長(zhǎng)位置轉(zhuǎn)換法探詢(xún)FBG光學(xué)傳感器 這種方法可以快速并且同時(shí)地對(duì)掛接在光纖上的所有FBG傳感器進(jìn)行測(cè)量，但是它只提供了非常有限的分辨率以及信噪比
2018-11-01 14:55:52
和共聚焦3D顯微形貌檢測(cè)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測(cè)與表面質(zhì)量檢測(cè)方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測(cè)方面具有不俗的表現(xiàn)。
一
2023-08-04 16:12:06
我正在測(cè)試 VL53L0X 準(zhǔn)確測(cè)量不同材料和不同大小物體的距離的能力。傳感器處于連續(xù)模式，我正在使用 VL53L)X_GetRangingMeasurmentData 讀取距離和反射率值。我讀取
2023-01-03 10:19:01
到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。 SuperViewW1光學(xué)3D表面輪廓儀&nbs
2022-08-19 18:37:24
首先確保機(jī)器硬件安裝完畢，驅(qū)動(dòng)安裝成功，在設(shè)備管理器中能找到反射內(nèi)存卡硬件，兩臺(tái)計(jì)算機(jī)各安裝一塊反射內(nèi)存卡，并且用LC-LC光纖連接，黃色LINK燈正常點(diǎn)亮。在開(kāi)始菜單或安裝目錄運(yùn)行RFM2G
2022-10-13 11:08:10
圖儀器SuperViewW1光學(xué)3d表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體
2023-05-24 15:00:30
NightN光學(xué)表面形貌測(cè)試儀HION產(chǎn)品介紹：光學(xué)測(cè)試儀HION用于光學(xué)表面測(cè)試。該技術(shù)基于 Shack-Hartmann 方法。激光束從被測(cè)光學(xué)表面反射并進(jìn)入 Shack-Hartmann 波前
2023-06-29 14:12:45
薄膜熱收縮率測(cè)試儀 薄膜、包裝和塑料材料是日常生活中常見(jiàn)的材料，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。這些材料不僅在保護(hù)商品方面發(fā)揮著重要作用，還在提高商品便攜性和美觀度方面具有重要意義。在本文中，我們將
2023-09-18 10:05:55
光學(xué)薄膜泛指在光學(xué)器件或光電子元器件表面用物理化學(xué)等方法沉積的、利用光的干涉現(xiàn)象以改變其光學(xué)特性來(lái)產(chǎn)生增透、反射、分光、分色、帶通或截止等光學(xué)現(xiàn)象的各類(lèi)膜系。
2010-09-09 15:49:50
56 概述激光測(cè)溫技術(shù)在光學(xué)薄膜制備中的應(yīng)用及其在自動(dòng)化方面的新進(jìn)展。
2010-09-09 15:50:3817
反射率檢測(cè)電路圖
2009-07-07 09:53:28721 
什么是光學(xué)薄膜和PAL PAL PAL是 Phase Alternating Line (逐行倒相)的縮寫(xiě)。它是西德在1962年指定的彩色電視廣播標(biāo)準(zhǔn)，它采用逐行倒相正交平衡調(diào)
2010-03-27 15:19:521047 NER 即噪聲等效反射率。本文通過(guò)分析 光學(xué)傳感器 噪聲的形成機(jī)理，指出傳感器的系統(tǒng)噪聲很大程度上和入瞳處的輻射亮度有關(guān)，并對(duì)噪聲等效反射率的進(jìn)行了模擬研究。為遙感圖像的
2011-06-13 15:45:3822 隨著人們對(duì)汽車(chē)儀表盤(pán)的照明和顯示儀器在亮度、視覺(jué)效果和能耗等方面的要求不斷提高，鑒于高性能光學(xué)薄膜在調(diào)整光路方面的顯著優(yōu)勢(shì)，使得將其替代傳統(tǒng)的塑料薄膜用于汽車(chē)顯示
2012-07-06 13:47:254274 海洋光學(xué)的NanoCalc系統(tǒng)利用了光譜反射測(cè)量技術(shù)，為半導(dǎo)體、醫(yī)療和工業(yè)環(huán)境領(lǐng)域的客戶(hù)提供光學(xué)薄膜厚度的精確測(cè)量。新款預(yù)配置NanoCalc系統(tǒng)面向客戶(hù)及新型應(yīng)用，適合深紫外到近紅外波段的
2012-09-04 09:32:21841 電腦輔助光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)。
2015-11-10 11:10:3220 GJB 2038A-2011 雷達(dá)吸波材料反射率測(cè)試方法，可以用來(lái)參考搭建反射率測(cè)試平臺(tái)
2016-02-15 10:48:1441 光學(xué)薄膜在我們的生活中無(wú)處不在，從精密及光學(xué)設(shè)備、顯示器設(shè)備到日常生活中的光學(xué)薄膜應(yīng)用；比方說(shuō)，平時(shí)戴的眼鏡、數(shù)碼相機(jī)、各式家電用品，或者是鈔票上的防偽技術(shù)，皆能被稱(chēng)之為光學(xué)薄膜技術(shù)應(yīng)用之延伸。倘若
2017-10-16 11:20:4324 為了分析色散效應(yīng)對(duì)晶體硅太陽(yáng)電池反射率的影響，在考慮材料折射率色散效應(yīng)的情況下，運(yùn)用光學(xué)干涉矩陣計(jì)算了具有SiO？ 單層減反射膜和MgFz /ZnS 雙層減反射膜晶體硅太陽(yáng)電池的反射率與波長(zhǎng)的函數(shù)
2017-10-23 16:56:4614 1、大口徑光學(xué)薄膜化學(xué)鍍膜技術(shù) 技術(shù)開(kāi)發(fā)單位是中國(guó)科學(xué)院山西煤炭化學(xué)研究所。該技術(shù)原為高功率激光器大口徑光學(xué)薄膜系列技術(shù)，主要包括：大口徑熔石英元件減反射膜、大口徑光學(xué)倍頻晶體保護(hù)膜、大口徑氟磷酸鹽
2017-10-31 09:26:234 光學(xué)薄膜幾乎是所有光學(xué)系統(tǒng)中不可缺少的基本元件，并且也是激光系統(tǒng)中最薄弱的環(huán)節(jié)之一。長(zhǎng)期以來(lái)，激光對(duì)光學(xué)薄膜的破壞一直是限制激光向高功率、高能量方向發(fā)展的瓶頸，也是影響高功率激光薄膜元件使用壽命
2017-11-03 16:05:098 闡述了用光學(xué)薄膜進(jìn)行色散補(bǔ)償?shù)幕驹?，介紹 了設(shè)計(jì)的基本過(guò)程 ．根據(jù) ］ri：Sapphire飛秒激光器中腔 內(nèi)色散補(bǔ)償?shù)囊?求，設(shè)定 了色散補(bǔ)償 目標(biāo)，通過(guò)計(jì)算機(jī)優(yōu)化，得到 了一種 4o
2017-11-07 10:53:039 本文介紹了各種光學(xué)材料的透射和反射光譜的測(cè)定，利用MPC-3100測(cè)定半導(dǎo)體、光盤(pán)、薄膜、光學(xué)元件等的試樣。
2017-11-09 10:43:574 針對(duì)激光在傳輸過(guò)程中的光能損失 ，本文根據(jù)光學(xué)薄膜理論，設(shè)計(jì)制備了減反射膜和抗激光的高反射膜，并對(duì)激光膜的鍍膜材料 、膜系設(shè)計(jì)、沉積工藝及離子輔助沉積等參數(shù)進(jìn)行了深入研究。研究結(jié)果表明，制備
2017-11-09 11:14:116 在5G即將到來(lái)的2018年，傳統(tǒng)的光學(xué)薄膜或?qū)⒂瓉?lái)發(fā)展壯大的新機(jī)遇！
2018-07-11 15:40:265105 當(dāng)一個(gè)方向的長(zhǎng)度比其它兩個(gè)方向的長(zhǎng)度小時(shí)，這種結(jié)構(gòu)稱(chēng)之為薄膜。如今，微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類(lèi)生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個(gè)非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。
2020-05-30 10:35:022380 ，占用體積也會(huì)越來(lái)越大。德國(guó)耶拿課題組提出了分段反射率分束器（SMS）的合成辦法，如圖 1（b）（c）所示。
2020-12-21 21:49:006 薄膜的應(yīng)用隨處可見(jiàn)，比如我們平時(shí)帶的眼鏡的鍍膜，手機(jī)貼膜，電腦電視，食品包裝膜等等各種薄膜制品，薄膜在我們的生活中起著至關(guān)重要的作用。 以光學(xué)膜為例，光學(xué)膜又分為增光膜、擴(kuò)散膜、反射膜、增透膜、濾光
2021-01-26 14:39:53613 光學(xué)薄膜的應(yīng)用隨處可見(jiàn)，比如我們平時(shí)帶的眼鏡的鍍膜，手機(jī)貼膜，電腦電視等的液晶顯示屏，光學(xué)膜在我們的生活中起著至關(guān)重要的作用。 光學(xué)膜又分為增光膜、擴(kuò)散膜、反射膜、增透膜、濾光膜、分光膜和偏振
2021-02-18 15:55:35389 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜瑕疵在線檢測(cè)儀主要用于檢測(cè)薄膜在生產(chǎn)過(guò)程中表面出現(xiàn)的黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲(chóng)等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機(jī)、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng)
2021-03-14 10:26:21332 大大提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)的自動(dòng)化程度。而且機(jī)器視覺(jué)易于實(shí)現(xiàn)信息集成，是實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)集成制造的基礎(chǔ)技術(shù)。精譜測(cè)控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測(cè)儀得到普及與推廣并為企業(yè)客戶(hù)熟知！ 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測(cè)儀可以快速準(zhǔn)確高
2021-03-15 16:32:431170 。 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)能夠完全代替人工肉眼對(duì)薄膜生產(chǎn)進(jìn)行高速、精確的7*24小時(shí)實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，自動(dòng)報(bào)警并顯示當(dāng)前瑕疵的具體信息（圖片展示、直徑、坐標(biāo)分布、瑕疵類(lèi)型等），使得工人能夠及時(shí)的對(duì)不良進(jìn)行處理。同
2021-03-30 10:11:04393 速度慢、精度低、易疲勞已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿(mǎn)足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無(wú)損只能檢測(cè)的要求。基于CCD的精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)儀與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比，具有快速、可靠、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，自動(dòng)報(bào)警并顯示當(dāng)前瑕
2021-03-30 10:14:58364 生產(chǎn)過(guò)程中表面瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)已廣泛應(yīng)用于帶鋼、薄膜、金屬、紙張、無(wú)紡布、玻璃等領(lǐng)域。 基于CCD的精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)儀與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比，具有快速、可靠、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，自動(dòng)報(bào)警并顯示當(dāng)前瑕
2021-04-01 10:25:39483 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜表面污點(diǎn)檢測(cè)技術(shù)完全取代人工實(shí)時(shí)檢測(cè)【無(wú)錫精譜測(cè)控技術(shù)有限公司——專(zhuān)業(yè)表面瑕疵在線檢測(cè)系統(tǒng)提供商。如有業(yè)務(wù)需求可聯(lián)系精譜測(cè)控印經(jīng)理：18112358205】 導(dǎo)讀：工業(yè)產(chǎn)品的表面瑕疵
2021-04-01 10:27:17499 摘要：目前薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)大多采用工業(yè)計(jì)算機(jī)、線掃描相機(jī)、旋轉(zhuǎn)編碼器和線型光源的方案。 在生產(chǎn)時(shí)，由高亮LED組成的線型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通過(guò)與薄膜運(yùn)行同步的旋轉(zhuǎn)編碼器
2021-04-02 10:33:46293 針對(duì)透光率高的薄膜材料，系統(tǒng)采用透射的打光檢測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)，即光源在薄膜的下方，相機(jī)在薄膜的上方進(jìn)行圖像拍攝（對(duì)于不透明的材料則采用反射的打光方式，即光源與相機(jī)在所要檢測(cè)面的同一側(cè)）。
2021-04-27 09:27:521004 基于CCD的精譜測(cè)控智能化光學(xué)薄膜在線瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比，具有快速、可靠、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，自動(dòng)報(bào)警并顯示當(dāng)前瑕疵的具體信息，以便及時(shí)進(jìn)行處理。同時(shí)系統(tǒng)根據(jù)產(chǎn)品批次
2021-05-12 14:57:15538 相機(jī)高速掃描薄膜表面，通過(guò)無(wú)錫精譜測(cè)控主研發(fā)的精譜測(cè)控圖像識(shí)別系統(tǒng)對(duì)薄膜表面缺陷進(jìn)行識(shí)別。 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)原理： 針對(duì)透光率高的薄膜材料，系統(tǒng)采用透射的打光檢測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)，即光源在薄膜的下方
2021-05-18 11:00:33479 研究人員通過(guò)引入具有自清潔特性的光學(xué)薄膜，為強(qiáng)光光學(xué)元件的表面防護(hù)提供了新策略。氧化鈰具有透光性好、熱穩(wěn)定性高、抗摩擦能力強(qiáng)等特點(diǎn)，成為強(qiáng)光光學(xué)元件自潔凈光學(xué)薄膜材料的一個(gè)補(bǔ)充選擇。由于疏水和親水表面能夠起到不同的去污防塵作用
2021-05-27 10:04:151442 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜在線污點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備可根據(jù)客戶(hù)的具體需求搭建出符合要求的薄膜表面瑕疵缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，系統(tǒng)可以準(zhǔn)確地識(shí)別薄膜生產(chǎn)中的瑕疵從而進(jìn)行及時(shí)的反饋生產(chǎn)線表面的缺陷信息，并對(duì)這些瑕疵進(jìn)行分類(lèi)處理，比人
2021-05-28 10:00:04297 。 賽默斐視光學(xué)薄膜表面污點(diǎn)檢測(cè)儀檢測(cè)薄膜上的臟污點(diǎn)、條紋、破損、邊緣裂縫、皺折、暗斑、亮斑、邊緣破損、黑點(diǎn)疵點(diǎn)、毛發(fā)、蚊蟲(chóng)等常見(jiàn)表面缺陷，薄膜檢測(cè)系統(tǒng)利用高分辨率線陣相機(jī)、高清鏡頭及配套線光源等硬件設(shè)備，配合專(zhuān)業(yè)
2021-06-04 16:38:59245 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)主要用于各類(lèi)薄膜產(chǎn)品的檢測(cè)工作，可針對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中的薄膜表面出現(xiàn)的斷經(jīng)、斷緯、破洞、油污、經(jīng)緯污、雙緯、稀弄、粗節(jié)紗、空織、松緊經(jīng)、圈緯、小散絲、松緯、經(jīng)起毛、開(kāi)口不清
2021-06-16 09:17:33440 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜瑕疵在線檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)相機(jī)、圖像處理算法等集成機(jī)器視覺(jué)技術(shù)，能高效地實(shí)時(shí)檢測(cè)、顯示和識(shí)別被測(cè)物體常見(jiàn)的表面缺陷（如孔洞、破損、邊緣裂縫、刮痕、邊緣破損等）、疵點(diǎn)、臟污點(diǎn)、水滴油滴印記
2021-06-16 09:11:56947 ，進(jìn)入積分球內(nèi)部的光會(huì)在積分球內(nèi)部進(jìn)行多次漫反射，最終由出光口均勻射出，通過(guò)檢測(cè)出光口的光通量，可以根據(jù)公式換算得出反射率、透射率等數(shù)據(jù)。
2021-07-03 09:47:172519 
精譜測(cè)控光學(xué)薄膜在線檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)原理介紹——傳統(tǒng)的檢測(cè)方法如人工目視抽檢速度慢、精度低、易疲勞已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿(mǎn)足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無(wú)損只能檢測(cè)的要求?；贑CD的薄膜表面瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)
2021-07-16 09:15:351148 精譜測(cè)控光學(xué)薄膜瑕疵檢測(cè)設(shè)備高精度實(shí)時(shí)在線檢測(cè)產(chǎn)品表面質(zhì)量——精譜測(cè)控光學(xué)薄膜瑕疵檢測(cè)設(shè)備可根據(jù)客戶(hù)的具體需求搭建出符合要求的薄膜表面瑕疵缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，系統(tǒng)可以準(zhǔn)確地識(shí)別薄膜生產(chǎn)中的瑕疵從而進(jìn)行及時(shí)
2021-08-16 15:32:53630 反射率是遙感應(yīng)用的基礎(chǔ)，以往的低空機(jī)載轉(zhuǎn)反射率方法，或者套用于高空方法，或者套用于地面方法。低空有低空的特點(diǎn)，并不是所有方法都很適合。在此對(duì)適用于低空機(jī)載高光譜成像儀轉(zhuǎn)反射率的做簡(jiǎn)要討論
2021-09-06 17:46:461489 有很多因素會(huì)引起反射率的變化，如：太陽(yáng)位置、傳感器位置、地理位置、地形、季節(jié)、氣候變化、地面濕度變化、地物本身的變異、大氣狀況等。 太陽(yáng)位置主要是指太陽(yáng)高度角和方位角，如果太陽(yáng)髙度角和方位角
2022-08-12 10:42:558393 
什么叫做光學(xué)薄膜?之所謂光學(xué)薄膜，首先，它應(yīng)該是薄的，其次，就是它能夠產(chǎn)生一定的光學(xué)效應(yīng)。
2022-11-02 20:11:511211 光學(xué)薄膜特性計(jì)算技術(shù)干貨來(lái)了！我們先用一組PPT讓您了解相關(guān)技術(shù)。請(qǐng)先看看下面的內(nèi)容。 ? ? ? 審核編輯：彭靜
2022-11-03 14:43:00598 增亮膜Brightness Enhancement Film（BEF）是一種新型高性能光學(xué)薄膜，由于其外表面微觀棱鏡陣列結(jié)構(gòu)這一特性，因此也被廣泛稱(chēng)為棱鏡膜。在TFT-LCD 背光模塊中能夠提高整個(gè)
2022-11-22 16:14:296544 在很多科研工作中，我們經(jīng)常會(huì)測(cè)試光學(xué)鏡頭的透過(guò)率與反射率。怎么解決好這個(gè)問(wèn)題呢？今天我們跟大家推薦一款優(yōu)秀的光學(xué)儀器，歡迎大家咨詢(xún)和使用！
2022-11-30 14:45:111222 LCD 領(lǐng)域用PET 型光學(xué)薄膜涂層按其所用主體樹(shù)脂分，主要有有機(jī)硅類(lèi)涂層、聚氨酯類(lèi)涂層和丙烯酸酯類(lèi)涂層或它們的改性衍生物。
2022-12-27 16:02:091383 光在通過(guò)分層媒質(zhì)時(shí)，來(lái)自不同界面的反射光、透射光在光的入射及反射方向上產(chǎn)生光的干涉現(xiàn)象，利用這種干涉現(xiàn)象，通過(guò)改變材料及其厚度等特性來(lái)人為控制光的干涉，根據(jù)需要實(shí)現(xiàn)光能的重新分配。
2023-01-10 10:52:553946 上使用暗目標(biāo)方法反演氣溶膠光學(xué)特性，還有暗體減法等；這些校正方法的目的就是為了減小地面反射率不確定度產(chǎn)生的誤差。 由于海洋表面相對(duì)陸地表面來(lái)說(shuō)要簡(jiǎn)單得多，而且在對(duì)水體觀測(cè)時(shí)，大氣信號(hào)所占比重更可達(dá)總信號(hào)的90%以上，故海洋表面的反射率
2023-02-27 15:59:40445 
減反射膜：例如，照相機(jī)、幻燈機(jī)、投影儀、電影放映機(jī)、望遠(yuǎn)鏡、瞄準(zhǔn)鏡以及各種光學(xué)儀器透鏡和棱鏡上所鍍的單層 MgF薄膜
2023-03-27 18:04:54978 通過(guò)低于薄膜損傷閾值能量的納秒脈寬激光輻照，可以破壞薄膜材料的節(jié)瘤缺陷，所以在更高能量密度的納秒激光輻照下薄膜就不會(huì)因節(jié)瘤缺陷向?yàn)?zāi)難性破壞的方向發(fā)展。
2023-04-26 07:42:00464 光學(xué)薄膜是利用薄膜對(duì)光的作用而工作的一種功能薄膜，光學(xué)薄膜在改變光強(qiáng)方面可以實(shí)現(xiàn)分光透射、分光反射、分光吸收以及光的減反、增反、分束、高通、低通、窄帶濾波等功能。
2023-04-17 11:46:253351 光學(xué)技術(shù)的發(fā)展對(duì)材料、表面、組件和系統(tǒng)的質(zhì)量提出了更高的要求，有時(shí)甚至是全新的要求。對(duì)于汽車(chē)應(yīng)用中的光學(xué)器件，促進(jìn)高透射率和散射的材料對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)的效率和外觀非常重要。對(duì)于天文學(xué)和星載系統(tǒng)中的光學(xué)，材料要求可能大不相同;例如，限制反射率和減少雜散光的材料可能非常重要。
2023-05-24 14:35:291028 
SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造等領(lǐng)域中。
2021-11-08 17:15:59626 
太陽(yáng)光譜反射率測(cè)量?jī)x美國(guó)DS主要特性ModelSSRversion6太陽(yáng)光譜反射率測(cè)量?jī)x配備不同的太陽(yáng)能測(cè)量光譜范圍，供用戶(hù)選擇。SSR能夠準(zhǔn)確測(cè)量漫反射和鏡面反射材料的太陽(yáng)能吸收率和反射率，甚至
2023-04-04 09:58:49639 
現(xiàn)代的任何一種光學(xué)儀器或光電裝置，幾乎都與光學(xué)薄膜息息相關(guān)，如光纖通訊、生物晶片、光顯示器。
2023-07-25 09:22:36928 
上海伯東提供適用于光學(xué)鍍膜機(jī)的離子源和真空系統(tǒng) 光的干涉在薄膜光學(xué)中應(yīng)用廣泛. 光學(xué)薄膜技術(shù)的普遍方法是借助真空濺射的方式在玻璃基板上涂鍍薄膜. 光學(xué)鍍膜是光學(xué)器件上的單個(gè)或多個(gè)材料沉積薄層, 實(shí)現(xiàn)
2023-09-08 11:34:11677 
上海伯東美國(guó) KRi 高能量射頻離子源 RFICP 220 應(yīng)用于光學(xué)鍍膜機(jī), 增強(qiáng)光學(xué)基片反射及透射率, 助力光學(xué)薄膜技術(shù)發(fā)展.
2023-11-14 12:57:22305 眾所周知，在可見(jiàn)光波段，普通金屬反射鏡的反射率可達(dá)99%。而在近紅外區(qū)域，專(zhuān)業(yè)涂覆鏡面的反射率更為驚人，高達(dá)99.9997%。然而，當(dāng)前最佳的中紅外反射鏡反射率僅有99.99%，導(dǎo)致光電子缺失率達(dá)近紅外超反射鏡的33倍之多。
2023-12-11 15:46:46260 SDTR一種薄膜面內(nèi)各向異性熱導(dǎo)率的測(cè)量方法近年來(lái)，隨著半導(dǎo)體行業(yè)的迅猛發(fā)展，半導(dǎo)體元件的體積急劇減小，對(duì)芯片或薄膜材料的熱物性探究至關(guān)重要，這樣給予針對(duì)超小尺寸的熱物性探測(cè)技術(shù)提供了發(fā)展需求，而其
2023-12-14 08:15:52180 
薄膜厚度一直都是影響太陽(yáng)能電池光電轉(zhuǎn)換率的最直接因素，電池廠商為保證在完成電池產(chǎn)線生產(chǎn)后能更快速且更精準(zhǔn)的測(cè)量出薄膜的厚度，了解其厚度對(duì)太陽(yáng)能電池性能的影響程度及其光學(xué)常數(shù)，就得需要通過(guò)光學(xué)薄膜厚度
2023-12-16 08:33:09301 
為了提高M(jìn)IR光譜的靈敏度和分辨率，我們需要使用光學(xué)腔來(lái)增強(qiáng)光路長(zhǎng)度和光強(qiáng)度。光學(xué)腔是由兩個(gè)或多個(gè)反射鏡組成的裝置，可以讓光在其中多次反射，形成穩(wěn)定的駐波模式。
2024-01-03 09:43:35218 減反(超寬波段) c、雙波段減反 d、寬角度減反 減反膜幾個(gè)重要的技術(shù)指標(biāo) a、使用的波段 b、使用的角度或者角度范圍 c、剩余反射率要求 d、使用環(huán)境 e、在激光領(lǐng)域還有激光閾值要求 分束膜 一般來(lái)講，分束膜總是傾斜使用，常用的是45度。 分束膜有兩種：中性分束膜
2024-01-17 06:32:30109 
在光學(xué)薄膜中，反射膜和增透膜幾乎同樣重要。對(duì)于光學(xué)儀器中的反射系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，一般單純金屬膜的特性大都已經(jīng)滿(mǎn)足常用要求。在某些應(yīng)用中，要求更高的反射率則可用金屬增強(qiáng)鏡。而全介質(zhì)多層反射膜，由于這種反射
2024-01-18 06:38:58128 
光學(xué)上常用的基板 玻璃----在光學(xué)應(yīng)用上最重要 陶瓷 光學(xué)晶體 光學(xué)塑料(如PC、PMMA等) 金屬 玻璃可以分為： 1、普通玻璃 2、無(wú)色光學(xué)玻璃 3、有色光學(xué)玻璃 4、特殊玻璃等 無(wú)色玻璃
2024-01-22 06:35:21100 
TOPCon電池性能的一種有效途徑。美能UVN2800分光光度計(jì)是一款用于測(cè)量ITO、非晶硅、微晶硅等薄膜材料的透過(guò)率、反射率以及吸光度的檢測(cè)儀器，波長(zhǎng)范圍為190～280
2024-01-20 08:32:51283 雖然UV光學(xué)薄膜面臨諸多挑戰(zhàn)，但I(xiàn)BS技術(shù)的出現(xiàn)，使沉積高質(zhì)量的UV光學(xué)薄膜成為可能。
2024-01-31 14:24:0376 
S-on-1測(cè)試法又被叫做多脈沖測(cè)試法，使用能量密度固定的激光對(duì)薄膜樣品表面進(jìn)行輻照，對(duì)每個(gè)點(diǎn)以極短的時(shí)間間隔輻照S次且實(shí)時(shí)監(jiān)控?fù)p傷情況，如果輻照不到S次就產(chǎn)生了損傷則立刻停止并轉(zhuǎn)而輻照下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
2024-02-26 11:11:34124 
，氧含量、沉積溫度和濺射功率對(duì)其電學(xué)和光學(xué)性能會(huì)產(chǎn)生一定的影響。美能掃描四探針?lè)阶?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試儀和分光光度計(jì)，能分別檢測(cè)太陽(yáng)能電池的薄膜方阻和薄膜材料的反射率和透過(guò)率，幫助用戶(hù)
2024-03-05 08:33:28282 磁控濺射技術(shù)是在真空中，經(jīng)電場(chǎng)作用，將氬氣電離成Ar+正離子，Ar+經(jīng)加速后撞擊靶材膜料，從而濺射到襯底上，制成薄膜。
2024-03-20 11:27:13186 
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