數(shù)碼產(chǎn)品中邏輯信號處理頻率越高，信號所需的上升沿越陡峭。對于半導體測試設(shè)備來說，波形品質(zhì)特別重要。在測量被測器件(DUT)的過程中，測試信號通過某些繼電器到達DUT，但在到達前信號會衰減。 TLP3375和TLP3275將重點放在高頻信號的通過特性上，等效上升時間(ERT)分別大幅改進至40 ps 和 60 ps。此外，TLP3375 採用新開發(fā)的超小型USOP封裝，支援高密度封裝。
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特徵
杰出的高頻通過特性
應(yīng)用
半導體測試設(shè)備
測量設(shè)備
輪廓圖
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